Отрывок: Рис. 3. Причинно-следственная диаграмма для анализа дефектов СБИС: «Большие кости» причинных факторов: I – этап проектирования и изготовления фотошаблонов; II – этап переноса, совмещения и проявления рисунков фотошаблонов на подложки СБИС; III – этап 1-й и 2-й термообработок; IV – этап травления топологии и удаления фоторезиста маски. «Средние и малые кости» причинных факторов: 1 – ошибки в тех...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorТюлевин С. В.ru
dc.contributor.authorПиганов М. Н.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ)ru
dc.coverage.spatialэлектронные средства (ЭС)ru
dc.coverage.spatialкачество электронных средств (ЭС)ru
dc.coverage.spatialанализ брака ЭСru
dc.coverage.spatialпоказатели качестваru
dc.coverage.spatialпричинно-следственные диаграммы качества ЭСru
dc.date.issued2014ru
dc.identifierRU/НТБ СГАУ/WALL/621.3/П 637-649597ru
dc.identifier.citationПостроение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств [Электронный ресурс] : [метод. указания] / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ) ; [сост. С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов]. - Самара : [Изд-во СГАУ], 2014. - on-lineru
dc.description.abstractИспользуемые программы: Adobe Acrobat.ru
dc.description.abstractМетодические указания предназначены для студентов, обучающихся по специальности 210201 «Проектирование и технология ра-диоэлектронных средств», при освоении дисциплины «Управление ка-чеством электронных средств (ЭС)».ru
dc.description.abstractТруды сотрудников СГАУ(электрон. версия).ru
dc.description.abstractГриф.ru
dc.format.extentЭлектрон. текстовые дан. (1 файл : 511,0 Кбайт)ru
dc.language.isorusru
dc.publisher[Изд-во СГАУ]ru
dc.relation.isformatofПостроение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств [Текст] : [метод. указания]ru
dc.relation.isformatofПостроение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств [Электронный ресурс] : [метод. указания]ru
dc.titleПостроение причинно-следственных диаграмм качества электронных средствru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.45ru
dc.subject.udc621.3(075)ru
dc.textpartРис. 3. Причинно-следственная диаграмма для анализа дефектов СБИС: «Большие кости» причинных факторов: I – этап проектирования и изготовления фотошаблонов; II – этап переноса, совмещения и проявления рисунков фотошаблонов на подложки СБИС; III – этап 1-й и 2-й термообработок; IV – этап травления топологии и удаления фоторезиста маски. «Средние и малые кости» причинных факторов: 1 – ошибки в тех...-
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
Тюлевин С.В. Построение.pdffrom 1C511.86 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.