Отрывок: По найденному значению аргументов по таблицам определяют ооответотвусцее значение теорети- чесгой функции распределения РСя^) . Аналогично находят остальные значения функции Р{"х-) . Полуенные точки откладывают по оси орди­ нат и сос.икяют плавной кривой. Теоретическая функц...
Название : Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов
Авторы/Редакторы : Капитонов В. А.
Министерство по делам науки
высшей школы и технической политики Российской Федерации
Самарский авиационный институт им. С. П. Королева
Дата публикации : 1992
Библиографическое описание : Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / М-во по делам науки, высш. шк. и техн. политики Рос. Федерации, Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; сост. В. А. Капитонов. - Самаpа, 1992. - 1 файл (360 Кб)
Аннотация : Рассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составленына кафедре "Микроэлектроника и технология радиоэлектроннойаппаратуры".
Используемые программы: Adobe Acrobat.
Труды сотрудников Самар. авиац. ин-та (электрон. версия).
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\438551
Ключевые слова: лабораторные работы
технологические процессы
точность
биполярные транзисторы
параметры качества
учебные издания
стабильность
статистические методы
полупроводниковые приборы
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Алейников Л.В. Анализ и исследование точности 1992.pdf360.46 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.