Отрывок: По найденному значению аргументов по таблицам определяют ооответотвусцее значение теорети- чесгой функции распределения РСя^) . Аналогично находят остальные значения функции Р{"х-) . Полуенные точки откладывают по оси орди­ нат и сос.икяют плавной кривой. Теоретическая функц...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorКапитонов В. А.ru
dc.contributor.authorМинистерство по делам наукиru
dc.contributor.authorвысшей школы и технической политики Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский авиационный институт им. С. П. Королеваru
dc.coverage.spatialлабораторные работыru
dc.coverage.spatialтехнологические процессыru
dc.coverage.spatialточностьru
dc.coverage.spatialбиполярные транзисторыru
dc.coverage.spatialпараметры качестваru
dc.coverage.spatialучебные изданияru
dc.coverage.spatialстабильностьru
dc.coverage.spatialстатистические методыru
dc.coverage.spatialполупроводниковые приборыru
dc.date.issued1992ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\438551ru
dc.identifier.citationАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / М-во по делам науки, высш. шк. и техн. политики Рос. Федерации, Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; сост. В. А. Капитонов. - Самаpа, 1992. - 1 файл (360 Кб)ru
dc.description.abstractРассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составленына кафедре "Микроэлектроника и технология радиоэлектроннойаппаратуры".ru
dc.description.abstractИспользуемые программы: Adobe Acrobat.ru
dc.description.abstractТруды сотрудников Самар. авиац. ин-та (электрон. версия).ru
dc.language.isorusru
dc.relation.isformatofАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : непосредсru
dc.titleАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборовru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.13.11ru
dc.subject.udc621.382.002(075)ru
dc.textpartПо найденному значению аргументов по таблицам определяют ооответотвусцее значение теорети- чесгой функции распределения РСя^) . Аналогично находят остальные значения функции Р{"х-) . Полуенные точки откладывают по оси орди­ нат и сос.икяют плавной кривой. Теоретическая функц...-
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Алейников Л.В. Анализ и исследование точности 1992.pdf360.46 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.