Отрывок: Thus, the cumulative changes in diffraction efficiency of NML As2S3–Se structure were measured. Fig. 1. Optical arrangement for holographic grating recording with real-time measurement of diffraction efficiency by photodetector. CW DPSS single mode laser (λ=0,532 μm, power =100 mW), M – mirror; SF – spatial filter; L – collimatin...
Название : Phase grating patterning by direct laser recording on As2S3-Se nanomultilayers
Авторы/Редакторы : Achimova, E.
Abaskin, V.
Meshalkin, A.
Prisacar, A.
Triduh, G.
Ключевые слова : Direct laser recording
holography
chalcogenide glass
nanostructures
phase grating
polarization states
Дата публикации : 2017
Издательство : Новая техника
Библиографическое описание : Achimova E. Phase grating patterning by direct laser recording on As2S3-Se nanomultilayers / E. Achimova, V. Abaskin, A. Meshalkin, A. Prisacar, G. Triduh // Сборник трудов III международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2017) - Самара: Новая техника, 2017. - С. 11-13.
Аннотация : Direct laser recording of surface relief gratings as phase holograms on successive evaporated As2S3 and Se nanomultilayers was studied in this paper. The surface relief gratings patterned on As2S3-Se nanomultilayers were investigated in dependence on polarization states of recording beams. It was shown that phase gratings are formed on the surface of the As2S3-Se nanomultilayers under the two linear polarized beams falling on the sample surface at (+45o)-(- 45o) relative to grating vector and the left-right circular polarizations. The influence of photo-induced mass transport on the surface relief formation process is discussed.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Phase-grating-patterning-by-direct-laser-recording-on-As2S3Se-nanomultilayers-63575
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170428\63575
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
paper 4_11-13.pdfОсновная статья447.83 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.