Отрывок: Это необходимо для обеспечения контроля флуктуации мощности лазерного модуля. Фазовая пластинка 11 вводится для вращения плоскости поляризации, когда необходимо исследовать влияние поляризации излучения на ДЭ ДОЭ. Коллективная линза 8 в оптической схеме измерительной системы необходима для корректировки диаграммы направленности дифраги...
Название : Методы контроля оптических элементов с микрорельефом
Авторы/Редакторы : Полещук, А.Г.
Корольков, В.П.
Насыров, Р.К.
Хомутов, В.Н.
Конченко, А.С.
Ключевые слова : методы оптического контроля
дифракционные оптические элементы
микрооптические элементы
конформальные элементы
синтезированные голограммы
Дата публикации : 2016
Издательство : Издательство СГАУ
Библиографическое описание : Материалы Международной конференции и молодёжной школы «Информационные технологии и нанотехнологии», с. 8-14
Аннотация : Доклад посвящен методам контроля оптических элементов с микрорельефом (дифракционных, микрооптических, конформальных), разработанных в ИАиЭ СО РАН.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Metody-kontrolya-opticheskih-elementov-s-mikrorelefom-60610
ISBN : 978-5-7883-1078-7
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20161207\60610
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
8-14.pdfОсновная статья819.32 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.