Отрывок: Это необходимо для обеспечения контроля флуктуации мощности лазерного модуля. Фазовая пластинка 11 вводится для вращения плоскости поляризации, когда необходимо исследовать влияние поляризации излучения на ДЭ ДОЭ. Коллективная линза 8 в оптической схеме измерительной системы необходима для корректировки диаграммы направленности дифраги...
Название : | Методы контроля оптических элементов с микрорельефом |
Авторы/Редакторы : | Полещук, А.Г. Корольков, В.П. Насыров, Р.К. Хомутов, В.Н. Конченко, А.С. |
Ключевые слова : | методы оптического контроля дифракционные оптические элементы микрооптические элементы конформальные элементы синтезированные голограммы |
Дата публикации : | 2016 |
Издательство : | Издательство СГАУ |
Библиографическое описание : | Материалы Международной конференции и молодёжной школы «Информационные технологии и нанотехнологии», с. 8-14 |
Аннотация : | Доклад посвящен методам контроля оптических элементов с микрорельефом (дифракционных, микрооптических, конформальных), разработанных в ИАиЭ СО РАН. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Metody-kontrolya-opticheskih-elementov-s-mikrorelefom-60610 |
ISBN : | 978-5-7883-1078-7 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20161207\60610 |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
8-14.pdf | Основная статья | 819.32 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.