Отрывок: 4. Схемы включения Для измерения электрических параметров были предложены схемы включения, приведенные на ...
Название : Методика обучающего эксперимента биполярных микросхем
Авторы/Редакторы : Тюлевин, С.В.
Пиганов, М.Н.
Еранцева, Е.С.
Ключевые слова : обучающий эксперимент
биполярная микросхема
методика
исследовательские испытания контроль
прогнозная модель
Дата публикации : 2017
Издательство : Новая техника
Библиографическое описание : Тюлевин С.В. Методика обучающего эксперимента биполярных микросхем / С.В. Тюлевин, М.Н. Пиганов, Е.С. Еранцева // Сборник трудов III международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2017) - Самара: Новая техника, 2017. - С. 1201-1205.
Аннотация : Проведен анализ методик обучающего эксперимента полупроводниковых микросхем для индивидуального прогнозирования показателей их качества. Сделан выбор информативных параметров и средств их контроля. Обоснованы схемы включения микросхем в процессе исследовательских испытаний и режимы их контроля. Выполнен анализ конструктивно-технологических вариантов микросхем. Разработана программа исследовательских испытаний. Приведены результаты обучающего эксперимента для микросхем серии 522. Проведен анализ экспериментальных данных. Рекомендовано использовать результаты обучающего эксперимента для построения математических прогнозных моделей качества микросхем.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Metodika-obuchaushego-eksperimenta-bipolyarnyh-mikroshem-63900
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170519\63900
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
paper 212_1201-1205.pdfОсновная статья. Раздел: Математическое моделирование478.48 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.