Отрывок: Тем не менее, визуально ФРТ, полученная дифракционной линзой с количеством уровней n=8 и радиальными искажениями, не отличается от ФРТ, полученной «идеальной» дифракционной линзой. Рассмотрим дифракционную линзу с количеством уровней n=16 и внесем радиальную технологическую ошибку. На рисунке 4 показаны фазовая функция дифракционной линзы с количеством уровней n=16 и внесенной радиальной технологической ошибкой (а), распреде...
Название : Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ
Авторы/Редакторы : Ганчевская С. В.
Скиданов Р. В.
Дата публикации : 2020
Библиографическое описание : Ганчевская, С. В. Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ / С. В. Ганчевская, Р. В. Скиданов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 597-602
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Issledovanie-vliyaniya-kolichestva-urovnei-kvantovaniya-i-tehnologicheskih-oshibok-na-FRT-85205
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\441739
Ключевые слова: квантование фазовой функции
дифракционная эффективность
дифракционные оптические элементы
изготовление дифракционной линзы
уровни квантования
технологические ошибки формирования микрорельефа
технология формирования микрорельефов
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
ИТНТ-2020_том 1-597-602.pdf682.47 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.