Отрывок: Тем не менее, визуально ФРТ, полученная дифракционной линзой с количеством уровней n=8 и радиальными искажениями, не отличается от ФРТ, полученной «идеальной» дифракционной линзой. Рассмотрим дифракционную линзу с количеством уровней n=16 и внесем радиальную технологическую ошибку. На рисунке 4 показаны фазовая функция дифракционной линзы с количеством уровней n=16 и внесенной радиальной технологической ошибкой (а), распреде...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Ганчевская С. В. | ru |
dc.contributor.author | Скиданов Р. В. | ru |
dc.coverage.spatial | квантование фазовой функции | ru |
dc.coverage.spatial | дифракционная эффективность | ru |
dc.coverage.spatial | дифракционные оптические элементы | ru |
dc.coverage.spatial | изготовление дифракционной линзы | ru |
dc.coverage.spatial | уровни квантования | ru |
dc.coverage.spatial | технологические ошибки формирования микрорельефа | ru |
dc.coverage.spatial | технология формирования микрорельефов | ru |
dc.creator | Ганчевская С. В., Скиданов Р. В. | ru |
dc.date.accessioned | 2020-08-10 15:28:20 | - |
dc.date.available | 2020-08-10 15:28:20 | - |
dc.date.issued | 2020 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\441739 | ru |
dc.identifier.citation | Ганчевская, С. В. Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ / С. В. Ганчевская, Р. В. Скиданов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 597-602 | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Issledovanie-vliyaniya-kolichestva-urovnei-kvantovaniya-i-tehnologicheskih-oshibok-na-FRT-85205 | - |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.ispartof | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек | ru |
dc.source | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоника | ru |
dc.title | Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.epage | 602 | ru |
dc.citation.spage | 597 | ru |
dc.citation.volume | 1 | ru |
dc.textpart | Тем не менее, визуально ФРТ, полученная дифракционной линзой с количеством уровней n=8 и радиальными искажениями, не отличается от ФРТ, полученной «идеальной» дифракционной линзой. Рассмотрим дифракционную линзу с количеством уровней n=16 и внесем радиальную технологическую ошибку. На рисунке 4 показаны фазовая функция дифракционной линзы с количеством уровней n=16 и внесенной радиальной технологической ошибкой (а), распреде... | - |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
ИТНТ-2020_том 1-597-602.pdf | 682.47 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.