Отрывок: Тем не менее, визуально ФРТ, полученная дифракционной линзой с количеством уровней n=8 и радиальными искажениями, не отличается от ФРТ, полученной «идеальной» дифракционной линзой. Рассмотрим дифракционную линзу с количеством уровней n=16 и внесем радиальную технологическую ошибку. На рисунке 4 показаны фазовая функция дифракционной линзы с количеством уровней n=16 и внесенной радиальной технологической ошибкой (а), распреде...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorГанчевская С. В.ru
dc.contributor.authorСкиданов Р. В.ru
dc.coverage.spatialквантование фазовой функцииru
dc.coverage.spatialдифракционная эффективностьru
dc.coverage.spatialдифракционные оптические элементыru
dc.coverage.spatialизготовление дифракционной линзыru
dc.coverage.spatialуровни квантованияru
dc.coverage.spatialтехнологические ошибки формирования микрорельефаru
dc.coverage.spatialтехнология формирования микрорельефовru
dc.creatorГанчевская С. В., Скиданов Р. В.ru
dc.date.accessioned2020-08-10 15:28:20-
dc.date.available2020-08-10 15:28:20-
dc.date.issued2020ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\441739ru
dc.identifier.citationГанчевская, С. В. Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ / С. В. Ганчевская, Р. В. Скиданов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 597-602ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Issledovanie-vliyaniya-kolichestva-urovnei-kvantovaniya-i-tehnologicheskih-oshibok-na-FRT-85205-
dc.language.isorusru
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Текru
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоникаru
dc.titleИсследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТru
dc.typeTextru
dc.citation.epage602ru
dc.citation.spage597ru
dc.citation.volume1ru
dc.textpartТем не менее, визуально ФРТ, полученная дифракционной линзой с количеством уровней n=8 и радиальными искажениями, не отличается от ФРТ, полученной «идеальной» дифракционной линзой. Рассмотрим дифракционную линзу с количеством уровней n=16 и внесем радиальную технологическую ошибку. На рисунке 4 показаны фазовая функция дифракционной линзы с количеством уровней n=16 и внесенной радиальной технологической ошибкой (а), распреде...-
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
ИТНТ-2020_том 1-597-602.pdf682.47 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.