Отрывок: Распознавание, обработка и анализ изображений 12 Полученная в результате численного эксперимента кривая стандартного отклонения оцениваемого параметра S (пунктирная линия) и нижняя граница стандартного отклонения этого параметра (сплошная линия) в зависимости от отношения сигнала к шуму На Рис. 1 представлены кривые, отображающие численно рассчитанную величину стандартного отклонения calcB оцениваемого параме...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЯковлева Т. В.ru
dc.coverage.spatialдвухпараметрический анализru
dc.coverage.spatialметод максимума правдоподобияru
dc.coverage.spatialобработка стохастических сигналовru
dc.coverage.spatialрайсовские данныеru
dc.coverage.spatialраспределение Райсаru
dc.coverage.spatialрасчет стандартного отклоненияru
dc.coverage.spatialточность восстановления сигналаru
dc.coverage.spatialчисленные экспериментыru
dc.creatorЯковлева Т. В.ru
dc.date.issued2022ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\491689ru
dc.identifier.citationЯковлева, Т. В. Исследование точности восстановления сигнала на фоне шума методом максимума правдоподобия при двухпараметрическом анализе райсовских данных / Т. В. Яковлева // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2022) : сб. тр. по материалам VIII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 23 - 27 мая) : в 5 т. / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2022Т. 3: Распознавание, обработка и анализ изображений / под ред. В. В. Мясникова. - 2022. - С. 030042.ru
dc.language.isorusru
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2022) : сб. тр. по материалам VIII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 23 - 27 мая) : в 5 т. -ru
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2022). - Т. 3 : Распознавание, обработка и анализ изображенийru
dc.titleИсследование точности восстановления сигнала на фоне шума методом максимума правдоподобия при двухпараметрическом анализе райсовских данныхru
dc.typeTextru
dc.citation.spage030042ru
dc.citation.volume3ru
dc.textpartРаспознавание, обработка и анализ изображений 12 Полученная в результате численного эксперимента кривая стандартного отклонения оцениваемого параметра S (пунктирная линия) и нижняя граница стандартного отклонения этого параметра (сплошная линия) в зависимости от отношения сигнала к шуму На Рис. 1 представлены кривые, отображающие численно рассчитанную величину стандартного отклонения calcB оцениваемого параме...-
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
978-5-7883-1791-5_2022-030042.pdf1.04 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.