Отрывок: Результаты моделирования представлены на рис. 2. Рис. 2. Зависимость полной измеренной интенсивности от угла поляризации Следует отметить, что интенсивность, которая пройдет через поляризатор, описываемый выражением (2), будет разной. Если мы рассчитаем полную интенсивность для некоторых стандартных углов: 2 2 0 , 45 2 , 90 0. tot x tot x tot I E I E I = = = = = = () то увидим, что общая измеренная ...
Название : | Исследование чувствительности алюминиевого апертурного кантилевера к поляризации падающего излучения |
Авторы/Редакторы : | Козлова Е. С. Стафеев С. С. Котляр В. В. |
Дата публикации : | 2023 |
Библиографическое описание : | Козлова, Е. С. Исследование чувствительности алюминиевого апертурного кантилевера к поляризации падающего излучения / Е. С. Козлова, С. С. Стафеев, В. В. Котляр // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2023) : сб. тр. по материалам IX Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 17-23 апр. 2023 г.): в 6 т. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - Фил. Федер. науч.-исслед. центра "Кристаллография и фотоника" Рос. акад. наук. - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2023Т. 1: Компьютерная оптика и нанофотоника / под ред. Е. С. Козловой. - 2023. - С. 013612. |
Аннотация : | В этой работе мы исследовали влияние поляризации падающего излучения в процессе измерения светового поля с помощью пирамидального апертурного кантилевера. Численно показано, что рассмотренный алюминиевый пирамидальный апертурный кантиелевер более чувствителен к поперечной электрической составляющей, чем к продольной. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Issledovanie-chuvstvitelnosti-aluminievogo-aperturnogo-kantilevera-k-polyarizacii-padaushego-izlucheniya-105621 |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\541552 |
Ключевые слова: | матрица Джонса СБОМ пирамидальные апертурные кантилеверы поляризация угол падения |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
978-5-7883-1917-9_2023-013612.pdf | 367.4 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.