Отрывок: ОБЛ. на рисунке 4б). Увеличение параметров DLOAЭФФ.ОБЛ. и НПУРЭФФ.ОБЛ свидетельствует об ухудшении упорядоченности ТЛИППС. а) б) Рисунок 4. Определение упорядоченности ТЛИППС, без учёта дефектных областей: DLOAЭФФ.ОБЛ. (а) и НПУРЭФФ.ОБЛ. (б)....
Название : Анализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком
Авторы/Редакторы : Белоусов Д. А.
Достовалов А. В.
Корольков В. П.
Бронников К. А.
Микерин С. Л.
Бабин С. А.
Дата публикации : 2020
Библиографическое описание : Анализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком / Д. А. Белоусов, А. В. Достовалов, В. П. Корольков, К. А. Бронников, С. Л. Микерин, С. А. Бабин // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 372-377
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Analiz-uporyadochennosti-i-defektnosti-struktur-TLIPPS-sformirovannyh-na-tonkih-plenkah-Hf-astigmaticheskim-gaussovym-puchkom-85172
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\441559
Ключевые слова: анализ дефектности
лазерно-индуцированные поверхности
пленки гафния
сфокусированные гауссовы пучки
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
ИТНТ-2020_том 1-372-377.pdf426.11 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.