Отрывок: Шунтирующие токи могут приводить к погрешности определения токовых параметров транзистора (статического коэффициента передачи тока базы), достигающей значения 100%. Известные технические решения [1] обладают невысокой степенью точности и малым быстродействием определения параметров транзисторов, что связано с использованием устройств времяимпульсного типа при реализации логометрической функции алго...
Название : Тестер внутрисхемного контроля биполярных транзисторов
Авторы/Редакторы : Курицкий А. А.
Афанасьев П. Н.
Дата публикации : 2010
Библиографическое описание : Курицкий, А. А. Тестер внутрисхемного контроля биполярных транзисторов / А. А. Курицкий, П. Н. Афанасьев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 25-27 мая 2010 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2010. - С. 37-38.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Tester-vnutrishemnogo-kontrolya-bipolyarnyh-tranzistorov-111004
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\559666
Ключевые слова: тестер устройства
помехоустойчивость
внутрисхемный контроль параметров
быстродействие
биполярные транзисторы
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
978-5-7883-0819-7_2010-37-38.pdf91.26 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.