Репозиторий Самарского университета

Отрывок: мпляров класса Kj в К2; n(peuiK,/Ki) - число верных решений об отнесении экземпляра, принадлежащего фактически к классу Кь к этому же классу; п(решК2/К2) - число верных решений об отнесении экземпляра, принадлежащего фактически к классу К2, к этому же классу; n(peinKi), п(решК2) - общее число решений, принимаемых по прогнозу об отнесении экземпляров соответственно к классу Kt и К2; при этом п(решК|)-п(решК2)=п; п(К,), п(К2) - число экземпляров, фактически принадлежащих к классу К, и ...

Название :	Прогнозирование показателей качества электронных элементов на основе обучающего эксперимента
Авторы/Редакторы :	Токарева А. В. Лактанов П. В.
Дата публикации :	2010
Библиографическое описание :	Токарева, А. В. Прогнозирование показателей качества электронных элементов на основе обучающего эксперимента / А. В. Токарева, П. В. Лактанов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 25-27 мая 2010 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2010. - С. 162-164.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) :	http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Prognozirovanie-pokazatelei-kachestva-elektronnyh-elementov-na-osnove-obuchaushego-eksperimenta-111046
Другие идентификаторы :	RU\НТБ СГАУ\559860
Ключевые слова:	радиоэлектронные средства прогнозирование состояния проведение обучающего эксперимента показатели качества информативные параметры микросхемы
Располагается в коллекциях:	Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.