Отрывок:
Название : | Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии |
Авторы/Редакторы : | Ивлиев Н. А. Колпаков В. А. |
Дата публикации : | 2017 |
Библиографическое описание : | Ивлиев, Н. А. Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии / Н. А. Ивлиев, В. А. Колпаков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 182-185. |
ISBN : | 978-5-473-01143-2 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20180203\67235 |
Ключевые слова: | атомно-силовая микроскопия адсорбция загрязнений диоксид кремния концентрация органических загрязнений органические загрязнения нанофотоника наноэлектроника |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
182-184.pdf | Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии | 471.44 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.