Отрывок:
Название : Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии
Авторы/Редакторы : Ивлиев Н. А.
Колпаков В. А.
Дата публикации : 2017
Библиографическое описание : Ивлиев, Н. А. Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии / Н. А. Ивлиев, В. А. Колпаков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 182-185.
ISBN : 978-5-473-01143-2
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20180203\67235
Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия
адсорбция загрязнений
диоксид кремния
концентрация органических загрязнений
органические загрязнения
нанофотоника
наноэлектроника
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
182-184.pdfОпределение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии471.44 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.