Отрывок:
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorИвлиев Н. А.ru
dc.contributor.authorКолпаков В. А.ru
dc.coverage.spatialатомно-силовая микроскопияru
dc.coverage.spatialадсорбция загрязненийru
dc.coverage.spatialдиоксид кремнияru
dc.coverage.spatialконцентрация органических загрязненийru
dc.coverage.spatialорганические загрязненияru
dc.coverage.spatialнанофотоникаru
dc.coverage.spatialнаноэлектроникаru
dc.creatorИвлиев Н. А., Колпаков В. А.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierDspace\SGAU\20180203\67235ru
dc.identifier.citationИвлиев, Н. А. Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии / Н. А. Ивлиев, В. А. Колпаков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 182-185.ru
dc.identifier.isbn978-5-473-01143-2ru
dc.language.isorusru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.)ru
dc.titleОпределение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопииru
dc.typeTextru
dc.citation.epage185ru
dc.citation.spage182ru
dc.subject.udc53.082.1ru
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
182-184.pdfОпределение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии471.44 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.