Отрывок:
Название : Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов
Авторы/Редакторы : Курылева П. А.
Боранбаев М. С.
Дата публикации : 2015
Библиографическое описание : Курылева, П. А. Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов / П. А. Курылева, М. С. Боранбаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. научн.-техн. конф. (г. Самара, 13-15 мая 2015 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : СНЦ РАН, 2015. - С. 100-102.
ISBN : 978-5-906605-57-3
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20161223\60980
Ключевые слова: контроль электромагнитных параметров
библиографические исследования
тонкие пленки
патентные исследования
наноматериалы
прибор диагностики материалов
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
100-102.pdfОсновная статья127.7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.