Отрывок:
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorКурылева П. А.ru
dc.contributor.authorБоранбаев М. С.ru
dc.coverage.spatialконтроль электромагнитных параметровru
dc.coverage.spatialбиблиографические исследованияru
dc.coverage.spatialтонкие пленкиru
dc.coverage.spatialпатентные исследованияru
dc.coverage.spatialнаноматериалыru
dc.coverage.spatialприбор диагностики материаловru
dc.creatorКурылева П. А., Боранбаев М. С.ru
dc.date.issued2015ru
dc.identifierDspace\SGAU\20161223\60980ru
dc.identifier.citationКурылева, П. А. Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов / П. А. Курылева, М. С. Боранбаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. научн.-техн. конф. (г. Самара, 13-15 мая 2015 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : СНЦ РАН, 2015. - С. 100-102.ru
dc.identifier.isbn978-5-906605-57-3ru
dc.language.isorusru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. научн.-техн. конф. (г. Самара, 13-15 мая 2015 г.)ru
dc.titleОбзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериаловru
dc.typeTextru
dc.citation.epage102ru
dc.citation.spage100ru
dc.subject.udc621.317.4ru
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
100-102.pdfОсновная статья127.7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.