Отрывок: Способ отбраковки ИМС осуществляется следующим образом. На источнике 1 питания устанавливают напряжение питания испытуемой ИМС, близкое к критическому питающему напряжению. С блока 3 формирователя тестовой последовательности на испытуемую ИМС 2 подают тестовую последовательность импульсов с амплитудой, равной напряжению питания испытуемой ИМС. Коммутатором 4 выбирают заданный выход микросхемы. Времена задержки распр...
Название : Методика диагностического контроля КМОП микросхем
Авторы/Редакторы : Кононов, А.В.
Ключевые слова : Контроль
Диагностика
КМОП-микросхема
Дата публикации : Май-2019
Издательство : ООО "АРТЕЛЬ"
Библиографическое описание : Кононов, А.В. Методика диагностического контроля КМОП микросхем / А.В. Кононов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 14-16 мая 2019 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара : ООО «АРТЕЛЬ», 2019. – С. 102-103.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Metodika-diagnosticheskogo-kontrolya-KMOP-mikroshem-77378
ISBN : 978-5-903-943-11-1
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20190612\77378
УДК: 621.382
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
102-103.pdfМетодика диагностического контроля КМОП микросхем182.83 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.