Отрывок:
Название : Исследование причин отказов интегральных микросхем
Авторы/Редакторы : Тулаев Я. Ю.
Дата публикации : 2017
Библиографическое описание : Тулаев, Я. Ю. Исследование причин отказов интегральных микросхем / Я. Ю. Тулаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 139-140.
ISBN : 978-5-473-01143-2
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20180202\67218
Ключевые слова: интегральные микросхемы
микросхемы
микроэлектроника
помехозащищенность
отказы интегральных микросхем
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
139-140.pdfИсследование причин отказов интегральных микросхем210.4 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.