Отрывок:
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorТулаев Я. Ю.ru
dc.coverage.spatialинтегральные микросхемыru
dc.coverage.spatialмикросхемыru
dc.coverage.spatialмикроэлектроникаru
dc.coverage.spatialпомехозащищенностьru
dc.coverage.spatialотказы интегральных микросхемru
dc.creatorТулаев Я. Ю.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierDspace\SGAU\20180202\67218ru
dc.identifier.citationТулаев, Я. Ю. Исследование причин отказов интегральных микросхем / Я. Ю. Тулаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 139-140.ru
dc.identifier.isbn978-5-473-01143-2ru
dc.language.isorusru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.)ru
dc.titleИсследование причин отказов интегральных микросхемru
dc.typeTextru
dc.citation.epage140ru
dc.citation.spage139ru
dc.subject.udc621.382ru
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
139-140.pdfИсследование причин отказов интегральных микросхем210.4 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.