Отрывок:
Название : | Исследование причин отказов интегральных микросхем |
Авторы/Редакторы : | Тулаев Я. Ю. |
Дата публикации : | 2017 |
Библиографическое описание : | Тулаев, Я. Ю. Исследование причин отказов интегральных микросхем / Я. Ю. Тулаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 139-140. |
ISBN : | 978-5-473-01143-2 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20180202\67218 |
Ключевые слова: | интегральные микросхемы микросхемы микроэлектроника помехозащищенность отказы интегральных микросхем |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
139-140.pdf | Исследование причин отказов интегральных микросхем | 210.4 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.