Отрывок: I Удельная емкость подзатворного окисла определяется выражением: /• — ^0Х — /-1Ч ^ох ‘‘ох где £ох- удельная проницаемость оксида; относительная диэлектрическая проницаемость оксида; £о - диэлектрическая проницаемость вакуума; tox - толщина оксида. Пороговое напряжение определяется по формуле: Ц=2^-- (4)С ’ где Cay - удельная ёмкость оксида, определяемая по (3). В выражении (4) фР - напряжение Ферми - зависит от температу...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЦырлов А. М.ru
dc.contributor.authorКорнеев Е. Ф.ru
dc.coverage.spatialвзаимосвязь параметров микросхемru
dc.coverage.spatialпараметры микросхемru
dc.coverage.spatialинформационные системыru
dc.coverage.spatialфизическая модель взаимосвязи параметровru
dc.creatorЦырлов А. М., Корнеев Е. Ф.ru
dc.date.accessioned2022-10-17 14:27:03-
dc.date.available2022-10-17 14:27:03-
dc.date.issued2005ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\487912ru
dc.identifier.citationЦырлов, А. М. Физическая модель взаимосвязи параметров микросхем / А. М. Цырлов, Е. Ф. Корнеев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 12-13 мая 2005 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова. - Самаpа : СГАУ, 2005. - С. 137-139.ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Fizicheskaya-model-vzaimosvyazi-parametrov-mikroshem-99440-
dc.language.isorusru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 12-13 мая 2005 г. - Текст : электронныйru
dc.titleФизическая модель взаимосвязи параметров микросхемru
dc.typeTextru
dc.citation.epage139ru
dc.citation.spage137ru
dc.textpartI Удельная емкость подзатворного окисла определяется выражением: /• — ^0Х — /-1Ч ^ох ‘‘ох где £ох- удельная проницаемость оксида; относительная диэлектрическая проницаемость оксида; £о - диэлектрическая проницаемость вакуума; tox - толщина оксида. Пороговое напряжение определяется по формуле: Ц=2^-- (4)С ’ где Cay - удельная ёмкость оксида, определяемая по (3). В выражении (4) фР - напряжение Ферми - зависит от температу...-
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Стр.-137-139.pdf141.88 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.