Просмотр собрания по группе - Тема атомно-силовая микроскопия
Результаты 1 по 1 из 1
Год издания | Название | Автор(ы) | Экспорт |
---|---|---|---|
2017 | Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии | Ивлиев Н. А.; Колпаков В. А. |