Отрывок: Чувствительность прибора измеряется в (нм/Гц) и определяется по этому тарировочному графику. Для таких приборов, как КИТ-1, КИТ-2 C f = 10 6 Гц×м 2 /кг. Структурная схема прибора КИТ-2 приведена на рис.5, в. Кварцевый датчик размещается в вакуумной каме...
Название : Визуализация технологии работы с лабораторной вакуумной установкой УВН-2М
Авторы/Редакторы : Бобылев Д. Д.
Архипов А. В.
Шишкина Д. А.
Министерство образования и науки России
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2021
Библиографическое описание : Бобылев, Д. Д. Визуализация технологии работы с лабораторной вакуумной установкой УВН-2М : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / Д. Д. Бобылев ; рук. работы А. В. Архипов ; нормоконтрок Д. А. Шишкина ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математик. - Самара, 2021. - on-line
Аннотация : Разработана обучающая программа для изучения технологическогопроцесса нанесения тонких пленок при работе на установке УВН-2М,смоделированы этапы и рабочие устройства вакуумной установки, составленитоговый тест для закрепления результатов изучения.
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20210914153218
Ключевые слова: вакуумная установка УВН-2М
вакуумное оборудование
вакуумные установки
визуализация технологии работы
технология работы
тонкие пленки
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Бобылев_Даниил_Дмитриевич_Визуализация_технологии_работы.pdf1.76 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.