Отрывок: Для повышения качества изображения необходимо подобрать оптимальные значения параметров. Для этого установим зависимость максимальной интен- сивности от выбранных параметров (рисунок 6). International Scientific Conference Proceedings, Volume 2 “Advanced Information Techno...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorШабека, А.С.-
dc.contributor.authorКуприянов, А.В.-
dc.date.accessioned2017-01-26 14:51:37-
dc.date.available2017-01-26 14:51:37-
dc.date.issued2015-
dc.identifierDspace\SGAU\20170126\61842ru
dc.identifier.citationТруды Международной научно-технической конференции. Т.2 / под ред. С.А. Прохорова. – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН. 2015. – с. 330-334ru
dc.identifier.isbn978-5-93424-735-6-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/Modelirovanie-elektronnyh-izobrazhenii-kristallicheskih-reshetok-metodom-mnogih-sloev-61842-
dc.language.isorusru
dc.publisherИздательство Самарского научного центра РАНru
dc.subjectКристаллическая решёткаru
dc.subjectизображения электронной микроскопииru
dc.subjectмоделированиеru
dc.subjectметод многих слоёвru
dc.titleМоделирование электронных изображений кристаллических решеток методом многих слоёвru
dc.typeArticleru
dc.textpartДля повышения качества изображения необходимо подобрать оптимальные значения параметров. Для этого установим зависимость максимальной интен- сивности от выбранных параметров (рисунок 6). International Scientific Conference Proceedings, Volume 2 “Advanced Information Techno...-
Располагается в коллекциях: Перспективные информационные технологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
pit_2015_p2_93.pdfОсновная статья448.84 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.