Отрывок: При разработке методики ДНК ИМС 286ЕП были исследованы ВАХ при обратном смещении входных и выходных цепей составных транзисторов в пле чах мискросборки. Исследования показали, что наиболее значительной разброс значений токов утечки, обу...
Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Баталова А. М. | ru |
| dc.contributor.author | Бекренев С. Н. | ru |
| dc.contributor.author | Пиганов М. Н. | ru |
| dc.coverage.spatial | интегральные микросхемы | ru |
| dc.coverage.spatial | диагностический контроль микросхем | ru |
| dc.coverage.spatial | методика диагностического контроля | ru |
| dc.coverage.spatial | микросхемы серии 286 | ru |
| dc.creator | Баталова А. М., Бекренев С. Н. | ru |
| dc.date.issued | 2005 | ru |
| dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\458642 | ru |
| dc.identifier.citation | Баталова, А. М. Методика диагностического контроля микросхем серии 286 / А. М. Баталова, С. Н. Бекренев ; науч. руководитель М. Н. Пиганов // VIII Королевские чтения: Всерос. молодежн. науч. конф. с междунар. участием, 4-6 окт. 2005 г. : сб. тр. / М-во образования и науки Рос. Федерации; Федер. агентство по образованию; Адм. Самар. обл.; Самар. науч. центр Рос. акад. наук; Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева; Гос. науч.-произв. ракет.- косм. центр "ЦСКБ - Прогресс"; ред. И. В. Белоконов. - Самаpа : СГАУ, 2005. - С. 240. | ru |
| dc.source | VIII Королевские чтения: Всерос. молодежн. науч. конф. с междунар. участием, 4-6 окт. 2005 г. : сб. тр. - Текст : электронный | ru |
| dc.title | Методика диагностического контроля микросхем серии 286 | ru |
| dc.type | Text | ru |
| dc.citation.spage | 240 | ru |
| dc.textpart | При разработке методики ДНК ИМС 286ЕП были исследованы ВАХ при обратном смещении входных и выходных цепей составных транзисторов в пле чах мискросборки. Исследования показали, что наиболее значительной разброс значений токов утечки, обу... | - |
| Располагается в коллекциях: | Королевские чтения | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| Стр. 240.pdf | 55.39 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.