Отрывок: Результирующий экспериментальный профиль интенсивности в фокусе представлен на рис. 5. Экс- периментальные данные были интерполированы ку- бическим сплайном. Из рис. 5 видно, что в ходе освещения бинарной ЗП из хрома линейно-поляризованным Гауссовым пучком (вектор поляризации направлен вдоль оси y), на расстоянии 800 нм формируется эллиптическое фокальное пятно с размерами по декартовым осям FWHMx = 0...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorНалимов, А.Г.-
dc.contributor.authorСтафеев, С.С.-
dc.contributor.authorКозлова, Е.С.-
dc.contributor.authorКотляр, В.В.-
dc.contributor.authorО'Фаолейн, Л.-
dc.contributor.authorКотляр, М.В.-
dc.date.accessioned2017-11-20 16:30:21-
dc.date.available2017-11-20 16:30:21-
dc.date.issued2017-06-
dc.identifierDspace\SGAU\20171024\65790ru
dc.identifierDspace\SGAU\20171025\65790ru
dc.identifier.citationНалимов, А.Г. Субволновая фокусировка лазерного излучения с помощью зонной пластинки из хрома / А.Г. Налимов, С.С. Стафеев, Е.С. Козлова, В.В. Котляр, Лим О'Фаолейн, М.В. Котляр // Компьютерная оптика. – 2017. – Т. 41, № 3. – С. 356-362ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Subvolnovaya-fokusirovka-lazernogo-izlucheniya-s-pomoshu-zonnoi-plastinki-iz-hroma-65790-
dc.description.abstractПроведено исследование характеристик фокусного пятна, формируемого зонной пластинкой диаметром 15 мкм из пленки хрома на стеклянной подложке и фокусным расстоянием в одну длину волны λ = 532 нм, в зависимости от высоты рельефа. Исследование показало, что высота рельефа 70 нм позволяет достичь оптимального соотношения размеров фокусного пятна по полуспаду интенсивности и максимальной интенсивности. С использованием сканирующего ближнепольного оптического микроскопа показано, что зонная пластинка с указанными параметрами фокусирует линейно поляризованный Гауссов пучок в эллиптическое пятно с размерами по полуспаду интенсивности вдоль декартовых координат FWHMx = 0,42λ и FWHMy = 0,64λ.ru
dc.description.sponsorshipРабота поддержана грантом РНФ 17-19-01186.ru
dc.language.isorusru
dc.publisherСамарский университетru
dc.relation.ispartofseries41;3-
dc.subjectамплитудная зонная пластинкаru
dc.subjectфазовая зонная пластинкаru
dc.subjectострая фокусировкаru
dc.subjectFDTD-методru
dc.subjectсканирующий ближнепольный оптический микроскопru
dc.titleСубволновая фокусировка лазерного излучения с помощью зонной пластинки из хромаru
dc.title.alternativeSubwavelength focusing of laser light using a chromium zone plateru
dc.typeArticleru
dc.textpartРезультирующий экспериментальный профиль интенсивности в фокусе представлен на рис. 5. Экс- периментальные данные были интерполированы ку- бическим сплайном. Из рис. 5 видно, что в ходе освещения бинарной ЗП из хрома линейно-поляризованным Гауссовым пучком (вектор поляризации направлен вдоль оси y), на расстоянии 800 нм формируется эллиптическое фокальное пятно с размерами по декартовым осям FWHMx = 0...-
dc.classindex.scsti29.31.15-
Располагается в коллекциях: Журнал "Компьютерная оптика"

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
410307.pdf607.5 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.