Отрывок: Аппроксимация спектров отражения с использовани- ем метода матриц 2 × 2 на основе точной электромаг- нитной теории [26] позволяет оценить мнимую часть показателя преломления как равную нулю при длинах волн более 1200 нм для образца № 2 и более 1000 нм для образцов № 3 и 4. Для демонстрации возможности использования плёнок CdTe в качестве отражающего слоя резонато- ра Фаб...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Подлипнов, В.В. | - |
dc.contributor.author | Быков, Д.А. | - |
dc.contributor.author | Нестеренко, Д.В. | - |
dc.date.accessioned | 2023-05-04 11:01:41 | - |
dc.date.available | 2023-05-04 11:01:41 | - |
dc.date.issued | 2022-06 | - |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20230412\103038 | ru |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20230426\103038 | ru |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20230503\103038 | ru |
dc.identifier.citation | Подлипнов, В.В. Структурные и оптические характеристики тонких пленок CdTe в видимом и инфракрасном диапазонах / В.В. Подлипнов, Д.А. Быков, Д.В. Нестеренко // Компьютерная оптика. – 2022. – Т. 46, № 3. – С. 415-421. – DOI: 10.18287/2412-6179-CO-1042. | ru |
dc.identifier.uri | https://dx.doi.org/10.18287/2412-6179-CO-1042 | - |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Strukturnye-i-opticheskie-harakteristiki-tonkih-plenok-CdTe-v-vidimom-i-infrakrasnom-diapazonah-103038 | - |
dc.description.abstract | Проведено исследование характеристик тонких плёнок CdTe, сформированных методом термовакуумного испарения из гранул CdTe на нагретые подложки. Структурные свойства CdTe были изучены с помощью растровой электронной микроскопии, рамановской спектроскопии. Исследование оптических свойств проводилось методом эллипсометрии, фурье-спектроскопии. Выявлены области низкого поглощения изготовленных плёнок в инфракрасном диапазоне. Для проверки возможности применения плёнок в сенсорике было проведено исследование структур металл/диэлектрик/диэлектрик на основе волноводного слоя CdTe для сред на основе воды, этанола и изопропанола, заключенных между плёнками CdTe и золота. В спектрах отражения этих структур наблюдаются резонансы в диапазонах длин волн, соответствующих локальным максимумам поглощения материалов. Выявлена зависимость положения резонансов в спектрах отражения от значений коэффициента поглощения растворителей. Полученные результаты могут быть использованы для разработки устройств фотоники инфракрасного диапазона. | ru |
dc.description.sponsorship | Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках выполнения работ по Государственному заданию ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН (соглашение № 007-ГЗ/Ч3363/26; разделы 2.1, 2.2) и Российского фонда фундаментальных исследований (грант 18-29-20006; разделы 1 и 2.3). | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | Самарский национальный исследовательский университет | ru |
dc.relation.ispartofseries | 46;3 | - |
dc.subject | нанофотоника | ru |
dc.subject | резонансы | ru |
dc.subject | металло-диэлектрические структуры | ru |
dc.subject | сенсорика | ru |
dc.subject | тонкие пленки CdTe | ru |
dc.subject | халькогенидные стеклообразные полупроводники | ru |
dc.subject | спектроскопия | ru |
dc.title | Структурные и оптические характеристики тонких пленок CdTe в видимом и инфракрасном диапазонах | ru |
dc.title.alternative | Structural and optical properties of thin CdTe films in the visible and infrared regions | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.textpart | Аппроксимация спектров отражения с использовани- ем метода матриц 2 × 2 на основе точной электромаг- нитной теории [26] позволяет оценить мнимую часть показателя преломления как равную нулю при длинах волн более 1200 нм для образца № 2 и более 1000 нм для образцов № 3 и 4. Для демонстрации возможности использования плёнок CdTe в качестве отражающего слоя резонато- ра Фаб... | - |
dc.classindex.scsti | 29.31.26 | - |
Располагается в коллекциях: | Журнал "Компьютерная оптика" |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
2412-6179_2022_46-3_415-421.pdf | Основная статья | 2.06 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.