Отрывок: Анализ ТЛИППС, записанных сканирующим астигматическим Гауссовым пучком В данном параграфе представлены результаты ана- лиза СЭМ-изображений ТЛИППС, показывающие влияние скорости сканирования и мощности записы- вающего астигматического Гауссова пучка на форми- рование периодической структуры. На рис. 9а представлены зависимости относитель- ной площади модифицированной области ТЛИППС на обрабаты...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorБелоусов, Д.А.-
dc.contributor.authorДостовалов, А.В.-
dc.contributor.authorКорольков, В.П.-
dc.contributor.authorМикерин, С.Л.-
dc.date.accessioned2020-12-30 15:58:20-
dc.date.available2020-12-30 15:58:20-
dc.date.issued2019-12-
dc.identifierDspace\SGAU\20191229\81092ru
dc.identifier.citationБелоусов, Д.А. Метод обработки микроизображений для анализа структур ТЛИППС / Д.А. Белоусов, А.В. Достовалов, В.П. Корольков, С.Л. Микерин // Компьютерная оптика. – 2019. – Т. 43, № 6. – С. 936-945. – DOI: 10.18287/2412-6179-2019-43-6-936-945.ru
dc.identifier.urihttps://dx.doi.org/10.18287/2412-6179-2019-43-6-936-945-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Metod-obrabotki-mikroizobrazhenii-dlya-analiza-struktur-TLIPPS-81092-
dc.description.abstractВ работе описан метод обработки микроизображений лазерно-индуцированных периодических поверхностных структур для количественной оценки их упорядоченности и дефектности. Приведены результаты его применения для анализа микроизображений периодических структур, сформированных на плёнках хрома толщиной 30 нм астигматически сфокусированным Гауссовым пучком фемтосекундного лазера. Получены зависимости относительной площади модифицированной этим пучком области, площади дефектов, а также упорядоченности периодических структур от скорости сканирования и мощности записывающего пучка.ru
dc.description.sponsorshipРабота выполнена по проекту фундаментальных исследований РАН № АААА-А17-117021310149-4.ru
dc.language.isorusru
dc.publisherСамарский национальный исследовательский университет имени акад. С.П. Королеваru
dc.relation.ispartofseries43;6-
dc.subjectцифровая обработка изображенийru
dc.subjectмикроскопияru
dc.subjectлазерная обработка материаловru
dc.subjectлазерно-индуцированные периодические поверхностные структурыru
dc.titleМетод обработки микроизображений для анализа структур ТЛИППСru
dc.title.alternativeA microscope image processing method for analyzing TLIPSS structuresru
dc.typeArticleru
dc.textpartАнализ ТЛИППС, записанных сканирующим астигматическим Гауссовым пучком В данном параграфе представлены результаты ана- лиза СЭМ-изображений ТЛИППС, показывающие влияние скорости сканирования и мощности записы- вающего астигматического Гауссова пучка на форми- рование периодической структуры. На рис. 9а представлены зависимости относитель- ной площади модифицированной области ТЛИППС на обрабаты...-
dc.classindex.scsti29.33.47-
Располагается в коллекциях: Журнал "Компьютерная оптика"

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
430603.pdfОсновная статья1.59 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.