Отрывок: Рис. 5. Зависимость радиуса кривизны R(z2) от продольной координаты для нескольких z Рис. 6. Зависимость средней абсолютной ошибки от величины z При расчете продольной производной величина z изменялась в диапазоне от 10 до 50 мм с шагом в 2 мм. В качестве оценочного параметра была выбрана средняя абсолютная ошибка (MAE) [30] между теоре- тической функцией радиуса кривизны волнового фронта R(z) и экспериментальными данными в зави- симости от z. На рис. 6 представле...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorСцепуро, Н.Г.-
dc.contributor.authorКовалев, М.С.-
dc.contributor.authorКрасин, Г.К.-
dc.contributor.authorГриценко, И.В.-
dc.contributor.authorБобков, А.В.-
dc.contributor.authorКудряшов, С.И.-
dc.date.accessioned2023-12-29 12:57:56-
dc.date.available2023-12-29 12:57:56-
dc.date.issued2022-12-
dc.identifierDspace\SGAU\20231225\107743ru
dc.identifier.citationСцепуро, Н.Г. Измерение радиуса кривизны сферической поверхности на основе уравнения переноса интенсивности / Н.Г. Сцепуро, М.С. Ковалев, Г.К. Красин, И.В. Гриценко, А.В. Бобков, С.И. Кудряшов // Компьютерная оптика. – 2022. – Т. 46, № 6. – С. 877-883. – DOI: 10.18287/2412-6179-CO-1159.ru
dc.identifier.urihttps://dx.doi.org/10.18287/2412-6179-CO-1159-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Izmerenie-radiusa-krivizny-sfericheskoi-poverhnosti-na-osnove-uravneniya-perenosa-intensivnosti-107743-
dc.description.abstractУравнение переноса интенсивности обеспечивает новый неинтерферометрический и неитеративный доступ к количественной информации о фазе световой волны посредством измерения распределений интенсивности. Это уравнение можно использовать для реализации простого и точного измерения пространственной фазы для оптического тестирования сферических поверхностей. Для реализации метода требуется только КМОП-камера, с помощью которой происходит регистрация поперечных распределений интенсивности поля в нескольких плоскостях. Обработка экспериментальных измерений с помощью специализированного программного обеспечения позволяет восстановить значение радиуса кривизны тестируемой сферической поверхности с высокой точностью. Для оценки точности значение радиуса кривизны тестируемой сферической поверхности, рассчитанное предлагаемым авторами методом, было сопоставлено с интерферометрическими измерениями. Разница полученных значений составила менее 0,01 %, что свидетельствует о хорошем согласовании данных.ru
dc.description.sponsorshipРабота выполнена при поддержке Российского научного фонта (проект №20-79-00264) и Российского Фонда Фундаментальных Исследований (проект № 20-32-90161).ru
dc.language.isorusru
dc.publisherСамарский национальный исследовательский университетru
dc.relation.ispartofseries46;6-
dc.subjectлазерные пучкиru
dc.subjectволновой фронтru
dc.subjectизмерение радиуса кривизны сферической поверхностиru
dc.subjectфазовые искаженияru
dc.subjectуравнение переноса интенсивностиru
dc.titleИзмерение радиуса кривизны сферической поверхности на основе уравнения переноса интенсивностиru
dc.title.alternativeMeasurement of the radius of curvature of a spherical surface based on the transport-of-intensity equationru
dc.typeArticleru
dc.textpartРис. 5. Зависимость радиуса кривизны R(z2) от продольной координаты для нескольких z Рис. 6. Зависимость средней абсолютной ошибки от величины z При расчете продольной производной величина z изменялась в диапазоне от 10 до 50 мм с шагом в 2 мм. В качестве оценочного параметра была выбрана средняя абсолютная ошибка (MAE) [30] между теоре- тической функцией радиуса кривизны волнового фронта R(z) и экспериментальными данными в зави- симости от z. На рис. 6 представле...-
dc.classindex.scsti29.33.43-
Располагается в коллекциях: Журнал "Компьютерная оптика"

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
2412-6179_2022_46_6_877-883.pdf1.36 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.