Отрывок: Существенным фактором, влияющим на методи- ческую погрешность определения величины СКО во втором спектральном диапазоне при построении од- номерной целевой функции р 1 (ν )S D , является эф- фект спектральной «утечки» частоты (рис. 3а, б). Анализ погрешностей при цифровой обработке результатов интерферометрического контроля локальных отклонений … Денисов Д.Г. Компьютерная оптика, 2017, том 41, №6 825 а...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorДенисов, Д.Г.-
dc.date.accessioned2018-01-30 13:52:46-
dc.date.available2018-01-30 13:52:46-
dc.date.issued2017-12-
dc.identifierDspace\SGAU\20180111\66811ru
dc.identifier.citationДенисов, Д.Г. Анализ погрешностей при цифровой обработке результатов интерферометрического контроля локальных отклонений нанометрового уровня поверхностей оптических деталей / Д.Г. Денисов // Компьютерная оптика. – 2017. – Т.41, № 6. – С. 820-830.ru
dc.identifier.urihttps://dx.doi.org/10.18287/2412-6179-2017-41-6-820-830-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Analiz-pogreshnostei-pri-cifrovoi-obrabotke-rezultatov-interferometricheskogo-kontrolya-lokalnyh-otklonenii-nanometrovogo-urovnya-poverhnostei-opticheskih-detalei-66811-
dc.description.abstractРазработан, научно обоснован и экспериментально подтверждён метод динамической интерферометрии контроля локальных отклонений нанометрового уровня поверхностей оптических деталей от заданного профиля на основе алгоритма расчёта целевой функции – спектральной плотности одномерной корреляционной функции. Представлены теоретические и экспериментальные исследования, посвящённые определению среднего квадратического отклонения локальных отклонений поверхностей оптических деталей диаметром до 100 мм и до 1000 мм, с учётом неисключённой систематической и случайной составляющих погрешностей определения целевой функции.ru
dc.description.sponsorshipОтдельные параграфы работы выполнены в рамках финансирования, осуществляемого согласно назначению стипендии Президента Российской Федерации молодым учёным и аспирантам, осуществляющим перспективные научные исследования и разработки по приоритетным направлениям модернизации российской экономики на 2013–2015 годы.ru
dc.language.isorusru
dc.publisherСамарский университетru
dc.relation.ispartofseries41;6-
dc.subjectоптический контрольru
dc.subjectинтерферометрияru
dc.subjectизмерения поверхностиru
dc.subjectспектральная плотность мощностиru
dc.subjectметодические погрешностиru
dc.subjectкраевой эффектru
dc.subjectэффект «утечки» частотыru
dc.titleАнализ погрешностей при цифровой обработке результатов интерферометрического контроля локальных отклонений нанометрового уровня поверхностей оптических деталейru
dc.title.alternativeError analysis in digital processing of the results of interferometric control of nano-scale local deviations of optical surfacesru
dc.typeArticleru
dc.textpartСущественным фактором, влияющим на методи- ческую погрешность определения величины СКО во втором спектральном диапазоне при построении од- номерной целевой функции р 1 (ν )S D , является эф- фект спектральной «утечки» частоты (рис. 3а, б). Анализ погрешностей при цифровой обработке результатов интерферометрического контроля локальных отклонений … Денисов Д.Г. Компьютерная оптика, 2017, том 41, №6 825 а...-
Располагается в коллекциях: Журнал "Компьютерная оптика"

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
410605.pdfОсновная статья1.06 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.