Отрывок: Существенным фактором, влияющим на методи- ческую погрешность определения величины СКО во втором спектральном диапазоне при построении од- номерной целевой функции р 1 (ν )S D , является эф- фект спектральной «утечки» частоты (рис. 3а, б). Анализ погрешностей при цифровой обработке результатов интерферометрического контроля локальных отклонений … Денисов Д.Г. Компьютерная оптика, 2017, том 41, №6 825 а...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Денисов, Д.Г. | - |
dc.date.accessioned | 2018-01-30 13:52:46 | - |
dc.date.available | 2018-01-30 13:52:46 | - |
dc.date.issued | 2017-12 | - |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20180111\66811 | ru |
dc.identifier.citation | Денисов, Д.Г. Анализ погрешностей при цифровой обработке результатов интерферометрического контроля локальных отклонений нанометрового уровня поверхностей оптических деталей / Д.Г. Денисов // Компьютерная оптика. – 2017. – Т.41, № 6. – С. 820-830. | ru |
dc.identifier.uri | https://dx.doi.org/10.18287/2412-6179-2017-41-6-820-830 | - |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Analiz-pogreshnostei-pri-cifrovoi-obrabotke-rezultatov-interferometricheskogo-kontrolya-lokalnyh-otklonenii-nanometrovogo-urovnya-poverhnostei-opticheskih-detalei-66811 | - |
dc.description.abstract | Разработан, научно обоснован и экспериментально подтверждён метод динамической интерферометрии контроля локальных отклонений нанометрового уровня поверхностей оптических деталей от заданного профиля на основе алгоритма расчёта целевой функции – спектральной плотности одномерной корреляционной функции. Представлены теоретические и экспериментальные исследования, посвящённые определению среднего квадратического отклонения локальных отклонений поверхностей оптических деталей диаметром до 100 мм и до 1000 мм, с учётом неисключённой систематической и случайной составляющих погрешностей определения целевой функции. | ru |
dc.description.sponsorship | Отдельные параграфы работы выполнены в рамках финансирования, осуществляемого согласно назначению стипендии Президента Российской Федерации молодым учёным и аспирантам, осуществляющим перспективные научные исследования и разработки по приоритетным направлениям модернизации российской экономики на 2013–2015 годы. | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | Самарский университет | ru |
dc.relation.ispartofseries | 41;6 | - |
dc.subject | оптический контроль | ru |
dc.subject | интерферометрия | ru |
dc.subject | измерения поверхности | ru |
dc.subject | спектральная плотность мощности | ru |
dc.subject | методические погрешности | ru |
dc.subject | краевой эффект | ru |
dc.subject | эффект «утечки» частоты | ru |
dc.title | Анализ погрешностей при цифровой обработке результатов интерферометрического контроля локальных отклонений нанометрового уровня поверхностей оптических деталей | ru |
dc.title.alternative | Error analysis in digital processing of the results of interferometric control of nano-scale local deviations of optical surfaces | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.textpart | Существенным фактором, влияющим на методи- ческую погрешность определения величины СКО во втором спектральном диапазоне при построении од- номерной целевой функции р 1 (ν )S D , является эф- фект спектральной «утечки» частоты (рис. 3а, б). Анализ погрешностей при цифровой обработке результатов интерферометрического контроля локальных отклонений … Денисов Д.Г. Компьютерная оптика, 2017, том 41, №6 825 а... | - |
Располагается в коллекциях: | Журнал "Компьютерная оптика" |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
410605.pdf | Основная статья | 1.06 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.