Отрывок: Полный заряд меняться не будет п...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorСумароков В. О.ru
dc.contributor.authorАрхипов А. В.ru
dc.contributor.authorМинистерство науки и высшего образования Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут информатикиru
dc.contributor.authorматематики и электроникиru
dc.coverage.spatialфотопроводимостьru
dc.coverage.spatialполупроводникиru
dc.coverage.spatialпластины полупроводниковru
dc.coverage.spatialвремя жизниru
dc.coverage.spatialрекомбинацияru
dc.coverage.spatialКонцентрацияru
dc.coverage.spatialдиффузионная длинаru
dc.coverage.spatialнеравновесные носители зарядаru
dc.creatorСумароков В. О.ru
dc.date.issued2020ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20200625132219ru
dc.identifier.citationСумароков, В. О. Установка для исследования процесса рекомбинации и диффузии неравновесных носителей заряда в полупроводнике : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / В. О. Сумароков ; рук. работы А. В. Архипов ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский ун-т), Ин-т информатики,. - Самара, 2020. - on-lineru
dc.description.abstractОбъектом исследования является экспериментальное изучение процессоврекомбинации и диффузии неравновесных носителей заряда за счет определения временижизни и диффузионной длины в пластине полупроводника.Цель работы - разработка установки для исследования процесса рекомбинации идиффузии неравновесных носителей заряда в полупроводнике.В результате работы были приведены методики и модели расчета времени жизниносителей заряда, выбран алгоритм для экспериментального измерения параметровполупроводника, разработана схема измерения и выбраны составные части установки,разработаны оригинальные детали установки и предложен вариант автоматизированнойобработки результатов измерения времени жизни носителей заряда.Эффективность работы заключается в определении времени жизни носителей зарядав полупроводнике, что позволяет оценить качество используемого материала.ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 2,2 Мб)ru
dc.titleУстановка для исследования процесса рекомбинации и диффузии неравновесных носителей заряда в полупроводникеru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.09.29ru
dc.subject.udc621.315.592ru
dc.textpartПолный заряд меняться не будет п...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.