Отрывок: Две другие функции, необходимые для использования BIST на системном уровне, включают контроллер тестирования (или контроллер BIST) и схему изоляции входа. Помимо обычных системных контактов ввода/вывода, для включения BIST могут потребоваться дополнительные контакты ввода/вывода для активации последовательности BIST (управляющий сигнал BIST...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorБанталов А. А.ru
dc.contributor.authorКозлова И. Н.ru
dc.contributor.authorЛизункова Д. А.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Россииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут информатикиru
dc.contributor.authorматематики и электроникиru
dc.coverage.spatialпроектирование BISTru
dc.coverage.spatialэлектроникаru
dc.coverage.spatialцифровые ячейки блочной памятиru
dc.coverage.spatialблоки тестированияru
dc.coverage.spatialмоделирование ошибокru
dc.creatorБанталов А. А.ru
dc.date.issued2020ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20200914150546ru
dc.identifier.citationБанталов, А. А. Оптимизация блока тестирования цифровых ячеек блочной памяти : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / А. А. Банталов ; рук. работы И. Н. Козлова ; нормоконтролер Д. А. Лизункова ; Минобрнауки России, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники,. - Самара, 2020. - on-lineru
dc.description.abstractЦелью работы является оптимизация и реализация блока тестированияцифровой ячейки блочной памяти на Verilog.Результаты данной дипломной работы могут быть использованы дляразработки блоков самотестирования для цифровых ячеек памяти.ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 1,4 Мб)ru
dc.titleОптимизация блока тестирования цифровых ячеек блочной памятиru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti50.01ru
dc.subject.udc004.9ru
dc.textpartДве другие функции, необходимые для использования BIST на системном уровне, включают контроллер тестирования (или контроллер BIST) и схему изоляции входа. Помимо обычных системных контактов ввода/вывода, для включения BIST могут потребоваться дополнительные контакты ввода/вывода для активации последовательности BIST (управляющий сигнал BIST...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Банталов_Артём_Алексеевич_Оптимизация_блока_тестирования_цифровых.pdf1.47 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.