Отрывок: Одним из возможных токов утечки является «вы- званный стрессовым воздействием ток утечки» (SILC – stress-induced leakage current). Захват носителей положительного и отрицательного зарядов, описы- вается различными модельными представлениями. В механизме транспорта носителей заряда через диэлектрический слой в сильных электрических по- лях увеличивается их энергия, что приводит к возникновению горячих элек- тронов на хвосте р...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Филатова В. А. | ru |
dc.contributor.author | Шалимова М. Б. | ru |
dc.contributor.author | Министерство науки и высшего образования Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Естественнонаучный институт | ru |
dc.coverage.spatial | затворные high-k диэлектрики | ru |
dc.coverage.spatial | затворные структуры МДП-устройств | ru |
dc.coverage.spatial | прямое туннелирование | ru |
dc.coverage.spatial | токи утечки | ru |
dc.coverage.spatial | туннелирование по Фаулеру-Нордгейму | ru |
dc.coverage.spatial | механизмы захвата носителей заряда | ru |
dc.coverage.spatial | МДП-структуры | ru |
dc.creator | Филатова В. А. | ru |
dc.date.issued | 2020 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20201127100333 | ru |
dc.identifier.citation | Филатова, В. А. Изменение токов утечки МДП-структур с затворным high-k диэлектриком под действием внешних факторов : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 03.03.02 "Физика" (уровень бакалавриата) / В. А. Филатова ; рук. работы М. Б. Шалимова ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Естественнонауч. ин-т, Физ. фак-т, Каф. физики т. - Самара, 2020. - on-line | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 0,7 Мб) | ru |
dc.title | Изменение токов утечки МДП-структур с затворным high-k диэлектриком под действием внешних факторов | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 29.19 | ru |
dc.subject.udc | 538.9 | ru |
dc.textpart | Одним из возможных токов утечки является «вы- званный стрессовым воздействием ток утечки» (SILC – stress-induced leakage current). Захват носителей положительного и отрицательного зарядов, описы- вается различными модельными представлениями. В механизме транспорта носителей заряда через диэлектрический слой в сильных электрических по- лях увеличивается их энергия, что приводит к возникновению горячих элек- тронов на хвосте р... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Филатова_Виктория_Александровна_Изменение_токов_утечки.pdf | 757.27 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.