Отрывок: Одним из возможных токов утечки является «вы- званный стрессовым воздействием ток утечки» (SILC – stress-induced leakage current). Захват носителей положительного и отрицательного зарядов, описы- вается различными модельными представлениями. В механизме транспорта носителей заряда через диэлектрический слой в сильных электрических по- лях увеличивается их энергия, что приводит к возникновению горячих элек- тронов на хвосте р...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorФилатова В. А.ru
dc.contributor.authorШалимова М. Б.ru
dc.contributor.authorМинистерство науки и высшего образования Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorЕстественнонаучный институтru
dc.coverage.spatialзатворные high-k диэлектрикиru
dc.coverage.spatialзатворные структуры МДП-устройствru
dc.coverage.spatialпрямое туннелированиеru
dc.coverage.spatialтоки утечкиru
dc.coverage.spatialтуннелирование по Фаулеру-Нордгеймуru
dc.coverage.spatialмеханизмы захвата носителей зарядаru
dc.coverage.spatialМДП-структурыru
dc.creatorФилатова В. А.ru
dc.date.issued2020ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20201127100333ru
dc.identifier.citationФилатова, В. А. Изменение токов утечки МДП-структур с затворным high-k диэлектриком под действием внешних факторов : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 03.03.02 "Физика" (уровень бакалавриата) / В. А. Филатова ; рук. работы М. Б. Шалимова ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Естественнонауч. ин-т, Физ. фак-т, Каф. физики т. - Самара, 2020. - on-lineru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 0,7 Мб)ru
dc.titleИзменение токов утечки МДП-структур с затворным high-k диэлектриком под действием внешних факторовru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti29.19ru
dc.subject.udc538.9ru
dc.textpartОдним из возможных токов утечки является «вы- званный стрессовым воздействием ток утечки» (SILC – stress-induced leakage current). Захват носителей положительного и отрицательного зарядов, описы- вается различными модельными представлениями. В механизме транспорта носителей заряда через диэлектрический слой в сильных электрических по- лях увеличивается их энергия, что приводит к возникновению горячих элек- тронов на хвосте р...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Филатова_Виктория_Александровна_Изменение_токов_утечки.pdf757.27 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.