Отрывок: Формула для определения N выглядит следующим образом: 𝑁 = 𝑛 − 𝑖𝑘, (2) где n – показатель преломления; i – мнимая единица; k – показатель поглощения. Интенсивность светового потока I, пропорциональна квадрату амплитудного значения вектора напряженности электрического поля, и связана с начальным значением интенсивности, согласно закону Бугера – Ламбе...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorБабкин Е. Н.ru
dc.contributor.authorПаранин В. Д.ru
dc.contributor.authorСаноян А. Г.ru
dc.contributor.authorМинобрнауки Россииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут информатикиru
dc.contributor.authorматематики и электроникиru
dc.coverage.spatialмагнетронное напылениеru
dc.coverage.spatialэлектронная микроскопияru
dc.coverage.spatialтонкие пленки алюминияru
dc.coverage.spatialспектральные характеристикиru
dc.creatorБабкин Е. Н.ru
dc.date.issued2019ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20190808103655ru
dc.identifier.citationБабкин, Е. Н. Экспериментальное исследование характеристик тонких пленок алюминия : вып. квалификац. работа по направлению подгот. "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / Е. Н. Бабкин ; рук. работы В. Д. Паранин ; нормоконтролер А. Г. Саноян ; Минобрнауки России, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак. - Самаpа, 2019. - on-lineru
dc.description.abstractВ работе рассматриваются технологии напыления тонких пленок оптических покрытий, спектральные характеристики и методы их получения и анализа. Цель работы – исследование характеристик тонких пленок алюминия, полученных методом магнетронного напыления. Разработана технология магнетронного напыления тонких пленок алюминия на вакуумной установке ЭТНА-100-МТ. С помощью интерферометра Microscope WLI определены толщины изготовленных пленок алюминия, равные 11; 19 нм. С использованием электронного микроскопа Carl Zeiss SUPRA 25-30-85 исследована сплошность и целостность пленок. Измерены спектральные характеристики пропускания и отражения на спектрофотометре Shimadzu UV-2450 в диапазоне 400 – 750 нм. Измерено сопротивление образцов размером 76х25 мм, равное 349 Ом, 356 Ом для толщины 11 нм; 117 Ом, 114,9 Ом для толщины 19 нм.ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 2,4 Мб)ru
dc.titleЭкспериментальное исследование характеристик тонких пленок алюминияru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti34.65ru
dc.subject.udc621.78ru
dc.textpartФормула для определения N выглядит следующим образом: 𝑁 = 𝑛 − 𝑖𝑘, (2) где n – показатель преломления; i – мнимая единица; k – показатель поглощения. Интенсивность светового потока I, пропорциональна квадрату амплитудного значения вектора напряженности электрического поля, и связана с начальным значением интенсивности, согласно закону Бугера – Ламбе...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Бабкин_Евгений_Николаевич_Экспериментальное_исследование_характеристик_тонких.pdf2.44 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.