Отрывок: д.). Однако такие оптические системы, как правило, более компактны. В итоге, можно заключить, что безколлиматорная схема и системы с коллиматорами, построенными по схемам Галилея и Кеплера, которые доступны для реализации в лаборатории позволяют регулировать размер освещающего пучка от 2 до 40 мм, исключая область от 10 до 20 мм. 21 3 Расчет и изготовление дифракционных оптических элементов ...
Название : Диагностические системы для контроля параметров излучения, формируемого дифракционными оптическими элементами различных апертур
Авторы/Редакторы : Юров Н. О.
Меженин А. В.
Министерство образования и науки России
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2020
Библиографическое описание : Юров, Н. О. Диагностические системы для контроля параметров излучения, формируемого дифракционными оптическими элементами различных апертур : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / Н. О. Юров ; рук. работы А. В. Меженин ; Минобрнауки России, Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т. - Самара, 2020. - on-line
Аннотация : Объектом исследования являются оптические системы, предназначенныедля диагностики элементов дифракционной оптики, работающих в дальнеминфракрасном (ИК) диапазоне.Цель работы – определение возможностей диагностических системс точки зрения исследования параметров излучения, формируемогодифракционными оптическими элементами (ДОЭ) различной апертуры.Проведен расчет оптических систем, предлагаемых для контроляпараметров ДОЭ, на основе положений дифракционной теории.Определены пределы регулирования размера освещающего выходногопучка в схемах с использованием и без использования коллиматоров.Выполнены эксперименты по исследованию параметров излучения,сформированного ДОЭ различных апертур.Значимость работы заключается в ее прикладной направленности:предлагаемые оптические системы могут использоваться для комплексногоисследования параметров дифракционных элементов дальнего ИК-диапазонас апертурой от 2 до 40 мм, за исключением области от 10 до 20 мм.
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20200625142618
Ключевые слова: распределение интенсивности
углекислотные лазеры
инфракрасное излучение
схема Кеплера
схема Галилея
диагностические системы
дифракционные оптические элементы (ДОЭ)
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.