Отрывок: Если одно из зеркал интерферометра 21 Майкельсона смещается на расстояние ∆𝑧, то разность хода лучей изменяется на ∆= 2∆𝑧, а разность фаз 𝛿 – на 2𝜋∆ 𝜆⁄ . Интерференционная картина, наблюдаемая с помощью интерферометра Майкельсона, весьма чувствительна к различным малым возмущениям, таким как механическое смещение зеркал, изменение состава, температуры и плотности среды, через которую проходят световые лучи. Поэтому интерферометр можно использовать...
Название : Цикл практических занятий по курсу «Стандартизация и нанометрология
Авторы/Редакторы : Касимова О. А.
Меженин А. В.
Министерство образования и науки России
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2020
Библиографическое описание : Касимова, О. А. Цикл практических занятий по курсу «Стандартизация и нанометрология : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / О. А. Касимова ; рук. работы А. В. Меженин ; Минобрнауки России, Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Ф. - Самара, 2020. - on-line
Аннотация : Объектом исследования являются приборы, предназначенные для проведения измерений в микро- и наноразмерном диапазоне. Цель работы – создание цикла практических занятий, дающего студентам возможность ознакомиться с устройством оборудования, позволяющего проводить высокоточные измерения, и получить практические навыки работы с микроскопами различных типов. Разработан ряд практических занятий, позволяющих студентам последовательно ознакомиться с устройством и работой оптических и электронных приборов, имеющих большое линейное увеличение и обладающих высокой разрешающей способностью. Составлены индивидуальные задания, позволяющие сформировать необходимые навыки работы и закрепить полученные знания. Проведена апробация цикла практических занятий на тестовой группе студентов. Разработанный цикл практических занятий является частью курса «Стандартизация и нанометрология».
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20200625141123
Ключевые слова: когерентность
электронные пушки
эмиссия вторичных электронов
разрешающая способность
растровая электронная микроскопия
интерферометрия белого света
стандартизация
оптическая микроскопия
объективы
окуляры
нанометрология
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.