Отрывок: Последнее, наряду с параметрами оптической системы, определяет разрешение [15]. 28 Практическая часть. Работа выполняется на растровом электронном микроскопе «Quanta 200» (рисунок 18), позволяющем получать изображения с высоким разрешением и увеличением более 100 000 крат. 1 – колонна прибора, 2 – камера объектов, 3 – приводы столика объектов, 4 – ...
Название : Цикл практических занятий по курсу «Основы теории эксперимента» для студентов направления «Электроника и наноэлектроника : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника"
Авторы/Редакторы : Рузанова А. В.
Харитонов С. И.
Гришанов В. Н.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2018
Библиографическое описание : Рузанова, А. В. Цикл практических занятий по курсу «Основы теории эксперимента» для студентов направления «Электроника и наноэлектроника : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / А. В. Рузанова ; рук. работы С. И. Харитонов; рец. В. Н. Гришанов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и э. - Самара, 2018. - on-line
Аннотация : В настоящей работе создается цикл занятий, позволяющих студентам направления «Электроника и наноэлектроника» получить знания и навыки в области эмпирических методов научного исследования. Цель работы – создание цикла работ, позволяющих студентам направлен
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Cikl-prakticheskih-zanyatii-po-kursu-«Osnovy-teorii-eksperimenta»-dlya-studentov-napravleniya-«Elektronika-i-nanoelektronika-vyp-kvalifikac-rabota-po-spec-Elektronika-i-nanoelektronika-74919
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20180720130909
Ключевые слова: газовые лазеры
гелий-неоновые лазеры
дифракция
интерференция
критический ток
лазерные диоды
наноразмерные структуры
плавкая вставка
растровые микроскопы
электрическое сопротивление
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.