Отрывок: Предлагае- зд есь метод решения (3) имеет вид - (6) 1к V- Л п где Г >0 - итерационный параметр. Сходимость процесса итерации (6) определяется выбором • Здесь в выбирается ■ , - 60 - что при Из ^2/1 = ° ’ ^//1 (6) имеем д (К+1) --и (к ) -1 ~ т- Г ^ а -ы> и легко заметить, что в случае и Г ~ ? е ш е н и е (3) на­ ходится за одну итерацию. При решении геометрически нелинейной задачи операторы и также „близки", что об...
Название : Об одном алгоритме исследования устойчивости гибких панелей
Авторы/Редакторы : Столяров Н
Н.
Додзина Р. Н.
Дата публикации : 1983
Библиографическое описание : Столяров, Н, Н. Об одном алгоритме исследования устойчивости гибких панелей / Н, Н. Столяров, Р. Н. Додзина // Вопросы прочности и долговечности элементов авиационных конструкций : межвуз. сб. / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [редкол.: Хазанов Х. С. (отв. ред.) и др.]. - Куйбышев, 1983. - С. 57-63.
Аннотация : Предлагается алгоритм исследования устойчивости и закритического поведения гибких прямоугольных в плане панелей, находящихся под действием поперечной нагрузки. Алгоритм основан на комбинации методов конечных разностей, дифференцирования и приеме использования в качестве параметра прослеживания равновесных состояний прогиба в центре. Предлагается эффективная процедура решения линеаризованной системы уравнений. Для панелей с различными условиями закрепления кромок получены значения критических нагрузок. Установлены значения параметра кривизны панели, при которых возникает явление хлопка.
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\474909
Ключевые слова: шарнирно опертые панели
устойчивость
прогибы панелей
поперечные нагрузки
кривизна панелей
критические нагрузки
метод конечных разностей
метод Бубнова-Галеркина
метод дифференцирования по параметру
метод итераций
гибкие панели
защемленные панели
Располагается в коллекциях: Вопросы прочности и долговечности

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Стр.-57-63.pdf689.98 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.