Отрывок: Содержит описание устройства, технические характеристики и другие сведения, необходимые для правильной эксплуатации изделия. 6.1 Назначение Устройство предназначено для проведения электрофизической диагностики интегральных КМОП-микросхем серии 765. Устройство позволяет отбраковывать потенциально ненадежные микросхемы при пониженном напряжении питания по установленному отклонению времени задержки срабатывания тестируемой ми...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorДорохин Н. В.ru
dc.contributor.authorТюлевин С. В.ru
dc.contributor.authorНаседкин А. В.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ)ru
dc.contributor.authorИнститут электроники и приборостроенияru
dc.contributor.authorКафедра конструирования и технологии электронных систем и устройствru
dc.coverage.spatialтехнико-экономическое обоснованиеru
dc.coverage.spatialустройство выделения импульса рассогласованияru
dc.coverage.spatialцифровая микросхемаru
dc.coverage.spatialзадатчик-формирователь импульсовru
dc.coverage.spatialэлектрофизическая диагностикаru
dc.coverage.spatialадаптерru
dc.creatorДорохин Н. В.ru
dc.date.issued2016ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20160413141125_1ru
dc.identifier.citationДорохин, Н. В. Устройство электрофизической диагностики микросхем КМОП типа : вып. квалификац. работа по специальности "Проектирование и технология радиоэлектрон. средств" / Н. В. Дорохин ; рук. работы С. В. Тюлевин ; рец. А. В. Наседкин ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ), Ин-т электроники и. - Самара, 2016. - on-lineru
dc.description.abstractВ дипломном проекте разработано устройство электрофизической диагностики цифровых микросхем.Проведены расчет надежности, поверочный электрический расчет, тепловой расчет. Разработана конструкция адаптера для подключения микросхем. Дано технико-экономическое обоснование целесообразности разработки, определены вредные и опасные факторы и разработаны меры безопасности при эксплуатации установки. Экономический эффект от внедрения составляет 127583 руб.ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 1,1 Мб)ru
dc.titleУстройство электрофизической диагностики микросхем КМОП типаru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.33.31ru
dc.subject.udc621.382.049.77ru
dc.textpartСодержит описание устройства, технические характеристики и другие сведения, необходимые для правильной эксплуатации изделия. 6.1 Назначение Устройство предназначено для проведения электрофизической диагностики интегральных КМОП-микросхем серии 765. Устройство позволяет отбраковывать потенциально ненадежные микросхемы при пониженном напряжении питания по установленному отклонению времени задержки срабатывания тестируемой ми...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Дорохин_Устройство_электрофизической_диагностики_микросхем.pdf1.14 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.