Отрывок: В зависимости от условий рассчитывается соответствующая плотность распределений. Учитывая, что число траекторий может достигать 1010 , времени на розыгрыш потребует неприемлемо бол...
Название : Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе
Авторы/Редакторы : Шабека А. С.
Куприянов А. В.
Карпеев С. В.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2017
Библиографическое описание : Шабека, А. С. Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе : вып. квалификац. работа по спец. "Прикладная математика и информатика" / А. С. Шабека ; рук. работы А. В. Куприянов; рец. С. В. Карпеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элек. - Самара, 2017. - on-line
Аннотация : Объектом исследования является метод моделирования топографического и композиционного контрастов, получаемых в растровом электронном микроскопе, основанный на методе Монте-Карло. Цель работы – разработка и реализация алгоритма моделирования контраста. Раз
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20170906151511
Ключевые слова: сечение рассеяния
метод Монте-Карло
детекторы
микрорельеф
модели изображений
пучок электронов
композиционный контраст
топографический контраст
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Шабека_Антон_Сергеевич_Моделирование_композиционного_топографического.pdf1.88 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.