Отрывок: В зависимости от условий рассчитывается соответствующая плотность распределений. Учитывая, что число траекторий может достигать 1010 , времени на розыгрыш потребует неприемлемо бол...
Название : Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решётки в растровом электронном микроскопе : вып. квалификац. работа по спец. "Прикладная математика и информатика"
Авторы/Редакторы : Шабека А. С.
Куприянов А. В.
Карпеев С. В.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2017
Библиографическое описание : Шабека, А. С. Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решётки в растровом электронном микроскопе : вып. квалификац. работа по спец. "Прикладная математика и информатика" / А. С. Шабека ; рук. работы А. В. Куприянов; рец. С. В. Карпеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элек. - Самара, 2017. - on-line
Аннотация : Объектом исследования является метод моделирования топографического и композиционного контрастов, получаемых в растровом электронном микроскопе, основанный на методе Монте-Карло. Цель работы – разработка и реализация алгоритма моделирования контраста. Раз
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/VKR/Modelirovanie-kompozicionnogo-i-topograficheskogo-kontrastov-izobrazhenii-mikrorelefa-difrakcionnoi-reshetki-v-rastrovom-elektronnom-mikroskope-vyp-k-67535
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20170906151511
Ключевые слова: детекторы
композиционный контраст
метод Монте-Карло
микрорельеф
модели изображений
пучок электронов
сечение рассеяния
топографический контраст
Располагается в коллекциях: ВКР




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.