Отрывок: В зависимости от условий рассчитывается соответствующая плотность распределений. Учитывая, что число траекторий может достигать 1010 , времени на розыгрыш потребует неприемлемо бол...
Название : | Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе |
Авторы/Редакторы : | Шабека А. С. Куприянов А. В. Карпеев С. В. Министерство образования и науки Российской Федерации Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) Институт информатики математики и электроники |
Дата публикации : | 2017 |
Библиографическое описание : | Шабека, А. С. Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе : вып. квалификац. работа по спец. "Прикладная математика и информатика" / А. С. Шабека ; рук. работы А. В. Куприянов; рец. С. В. Карпеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элек. - Самара, 2017. - on-line |
Аннотация : | Объектом исследования является метод моделирования топографического и композиционного контрастов, получаемых в растровом электронном микроскопе, основанный на методе Монте-Карло. Цель работы – разработка и реализация алгоритма моделирования контраста. Раз |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\ВКР20170906151511 |
Ключевые слова: | сечение рассеяния метод Монте-Карло детекторы микрорельеф модели изображений пучок электронов композиционный контраст топографический контраст |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Шабека_Антон_Сергеевич_Моделирование_композиционного_топографического.pdf | 1.88 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.