Отрывок: (3.14) где 0 1 2, ,   – диэлектрические проницаемости; 0 1 2, ,   – магнитные проницаемости; 0 1,z z – границы между слоями; 1 1 0d z z  . n , 0T и 1T рассчитываются по следующим формулам (3.15) и (3.16): 0 0 0exp( ),T ik z (3.15)  1 1 1 0expT ik z z    , (3.16) где n – постоянная распространения равна:    2 2n n n       . (3.17) На рисунке 3.1 пре...
Название : Исследование спектральных и поляризационных свойств многослойных структур
Авторы/Редакторы : Елютин В. В.
Хонина С. Н.
Харитонов С. И.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2017
Библиографическое описание : Елютин, В. В. Исследование спектральных и поляризационных свойств многослойных структур : вып. квалификац. работа по спец. "Прикладная математика и информатика" / В. В. Елютин ; рук. работы С. Н. Хонина; рец. С. И. Харитонов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2017. - on-line
Аннотация : Объектом исследования являются многослойные структуры и их использование в качестве спектральных и поляризационных фильтров.Целью данной работы является исследование спектральных и поляризационных свойств многослойных структур, а также их моделирование.Для достижения цели используется программное обеспечение написанное на языке Java. В работе приведены результаты моделирования прохождения света через многослойные структуры.
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20170915162244
Ключевые слова: матричный метод
многослойные структуры
поляризация
коэффициент поляризации
оптическая толщина
оптические фильтры
спектральные фильтры
интерференционные покрытия
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.