Отрывок: Рисунок 2.9  Схема эллипсометрический измерений [45] Данный метод основан на том (рисунок 2.9), что на исследуемый образец падает плоско поляризованная волна, которая после отражения становится в общем случае эллиптически поляризованной. Параметры эллипса поляризации, определяются оптическими с...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorМазницына Е. А.ru
dc.contributor.authorПлатонов И. А.ru
dc.contributor.authorГойхман А. Ю.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут ракетно-космической техникиru
dc.coverage.spatialатомно-слоевое осаждениеru
dc.coverage.spatialбелок DPSru
dc.coverage.spatialбиоактивные поверхностиru
dc.coverage.spatialполимеразно цепная реакцияru
dc.coverage.spatialмагнитронное напылениеru
dc.coverage.spatialионно-плазменное осаждениеru
dc.coverage.spatialоксид кремнияru
dc.creatorМазницына Е. А.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20170616154304ru
dc.identifier.citationМазницына, Е. А. Формирование и исследование наноразмерных слоев оксида кремния для приложений биоинженерии : вып. квалификац. работа по спец. "Наноинженерия" / Е. А. Мазницына ; рук. работы И. А. Платонов; конс. А. Ю. Гойхман ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т ракет.-косм. техники, Каф. - Самара, 2017. - on-lineru
dc.description.abstractЦелью данной работы являлось изучение адсорбции биообъектов на поверхности наноразмерных оксидных слоев, сформированных на полимерных и кремниевых подложках методами вакуумного синтеза. Объектом исследования были выбраны наноразмерные пленки, осажденные разными физическими и химическими методами для приложений биоинженерии.ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 4,3 Мб)ru
dc.titleФормирование и исследование наноразмерных слоев оксида кремния для приложений биоинженерииru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti31.15.35ru
dc.subject.udc544.723ru
dc.textpartРисунок 2.9  Схема эллипсометрический измерений [45] Данный метод основан на том (рисунок 2.9), что на исследуемый образец падает плоско поляризованная волна, которая после отражения становится в общем случае эллиптически поляризованной. Параметры эллипса поляризации, определяются оптическими с...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.