Отрывок: В разрабатываемом методе используется линейный поляризатор для анализа состояния, по которому судят о толщине кристалла а-среза. 25 Для пучков Бесселя пространственный спектр сосредоточен в узком кольце, радиус которого связан с числовой апертурой пучка. Примерно это можно описать следующей формулой (6) [73]: 𝑆𝑥,𝑦(𝛼, 𝛽) = 𝑐𝑥,𝑦𝛿(𝛼 2 + 𝛽2 = 𝜎0 2), (6) где α, β ‒ пространственные частоты; cx,...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorАнаньев А. В.ru
dc.contributor.authorПаранин В. Д.ru
dc.contributor.authorБабаева О. Г.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут информатикиru
dc.contributor.authorматематики и электроникиru
dc.coverage.spatialлазерные пучки Бесселяru
dc.coverage.spatialниобат литияru
dc.coverage.spatialодноосные кристаллыru
dc.coverage.spatialдвулучепреломлениеru
dc.coverage.spatialдифракционный аксиконru
dc.creatorАнаньев А. В.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20171215102547ru
dc.identifier.citationАнаньев, А. В. Экспериментальное исследование оптоэлектронного метода измерения толщины одноосных кристаллов а-среза : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / А. В. Ананьев ; рук. работы В. Д. Паранин; рец. О. Г. Бабаева ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2017. - on-lineru
dc.description.abstractОбъектом исследования является одноосный кристалл а-среза(кристалл конгруэнтного ниобата лития).Цель работы - разработка оптоэлектронного метода измерениятолщины двулучепреломляющих кристаллов а-среза.В процессе работы рассмотрены способы формирования и областиприменения пучков Бесселя, проведен анализ существующих методовизмерения толщины кристаллов, предложен оптический метод измерениятолщины двулучепреломляющих кристаллов а-среза, проведенаэкспериментальная апробация разработанного методаВ результате выпускной квалификационной работы разработан методбесконтактного измерения толщины одноосных кристаллов а-среза вдиапазоне от 0,1 до 100 мм при использовании аксиконов с различнымиугловыми апертурами.Результаты работы представляют интерес для предприятий,занимающихся производством и обработкой двулучепреломляющихкристаллов.ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 2,5 Мб)ru
dc.titleЭкспериментальное исследование оптоэлектронного метода измерения толщины одноосных кристаллов а-срезаru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti29.31ru
dc.subject.udc004.9ru
dc.textpartВ разрабатываемом методе используется линейный поляризатор для анализа состояния, по которому судят о толщине кристалла а-среза. 25 Для пучков Бесселя пространственный спектр сосредоточен в узком кольце, радиус которого связан с числовой апертурой пучка. Примерно это можно описать следующей формулой (6) [73]: 𝑆𝑥,𝑦(𝛼, 𝛽) = 𝑐𝑥,𝑦𝛿(𝛼 2 + 𝛽2 = 𝜎0 2), (6) где α, β ‒ пространственные частоты; cx,...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Ананьев_Александр_Владимирович_Экспериментальное_исследование_оптоэлектронного_метода.pdf2.51 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.