Отрывок: С этой точки зрения вьппеописан- ный метод, безусловно, предпочтителен для отработки техпроцесса, но для экспресс-контроля, для упрощения и увеличения производительности вполне применим упрощенный способ определения загрязнения поверхности подло­ жек по площади растекания калиброванной капли жидкости на исследуемой поверхности, т.е. критерием степени чист...
Название : Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов
Авторы/Редакторы : Волков А. В.
Саноян А. Г.
Бородин С. А.
Агафонов А. Н.
Федеральное агентство по образованию
Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева
Дата публикации : 2007
Издательство : [Изд-во СГАУ]
Библиографическое описание : Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов [Электронный ресурс] : [учеб. пособие / А. В. Волков и др.] ; Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева. - Самара : [Изд-во СГАУ], 2007. - on-line. - ISBN = 978-5-7883-0627-8
Аннотация : Используемые программы: Adobe Acrobat
Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия)
ISBN : 978-5-7883-0627-8
Другие идентификаторы : RU/НТБ СГАУ/WALL/СГАУ:5/О-224-881934
Ключевые слова: геомерические характеристики микрорельефа ДОЭ
микрорельеф ДОЭ
дискретизация
дифракционная оптика
дифракционные оптические элементы
квантование
операции
методы контроля
контроль
метод растровой электронной микроскопии
структура конструкционных материалов
подготовка поверхности подложки
покрытия
технология формирования фазового микрорельефа
технологический контроль
сканирующий зондовый микроскоп
создание микрорельефа ДОЭ
растровый электронный микроскоп
степень чистоты диэлектрических оснований ДОЭ
Располагается в коллекциях: Учебные издания

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
Волков А.В. Оборудование и методы.pdffrom 1C16.71 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.