Отрывок: С этой точки зрения вьппеописан- ный метод, безусловно, предпочтителен для отработки техпроцесса, но для экспресс-контроля, для упрощения и увеличения производительности вполне применим упрощенный способ определения загрязнения поверхности подло­ жек по площади растекания калиброванной капли жидкости на исследуемой поверхности, т.е. критерием степени чист...
Название : Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов [Электронный ресурс] : [учеб. пособие
Авторы/Редакторы : Волков А. В.
Саноян А. Г.
Бородин С. А.
Агафонов А. Н.
Федеральное агентство по образованию
Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева
Дата публикации : 2007
Издательство : Изд-во СГАУ
Аннотация : Используемые программы: Adobe Acrobat
Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия)
ISBN : 978-5-7883-0627-8
Другие идентификаторы : RU/НТБ СГАУ/WALL/СГАУ:5/О-224-881934
Ключевые слова: геомерические характеристики микрорельефа ДОЭ
дифракционная оптика
дифракционные оптические элементы (ДОЭ)
дискретизация
квантование
контроль
метод растровой электронной микроскопии
методы контроля
микрорельеф ДОЭ
операции
покрытия
подготовка поверхности подложки
растровый электронный микроскоп
технологический контроль
технология формирования фазового микрорельефа
структура конструкционных материалов
сканирующий зондовый микроскоп
степень чистоты диэлектрических оснований ДОЭ
создание микрорельефа ДОЭ
Располагается в коллекциях: Учебные издания

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
Волков А.В. Оборудование и методы.pdffrom 1C16.71 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.