Отрывок: 2.7.б): Яэф sin# s «ou a + ( l - a ) s i n 0 После сделанных замечаний вернемся к рассмотрению вопроса откло­ нения пара в эффузионной камере от положения равновесия. 42 6} Рис.2.7. Схемы испарения с гладкой (а) и шероховатой (б) поверхностей, 0 - угол щели шероховатости Формула Шпайзера-Джонстона. Рассмотрим эффузионную камеру, имеющую площадь дна S , эквивалентную поверхности испа­ рения. Если из камеры вещество не выходит в виде пара, то за единиц...
Название : Анализ и исследование полупроводниковых материалов
Авторы/Редакторы : Федоров В. А.
Кузнецов Н. Т.
Федеральное агентство по образованию
Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева
Дата публикации : 2008
Издательство : [Изд-во СГАУ]
Библиографическое описание : Федоров, В. А. Анализ и исследование полупроводниковых материалов [Электронный ресурс] : [учеб. пособие] / В. А. Федоров, Н. Т. Кузнецов ; Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева. - Самара : [Изд-во СГАУ], 2008. - on-line. - ISBN = 978-5-7883-0697-1
Аннотация : Используемые программы: Adobe Acrobat
Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия)
ISBN : 978-5-7883-0697-1
Другие идентификаторы : RU/НТБ СГАУ/WALL/СГАУ:6/Ф 333-225256
Ключевые слова: квазистатические методы
масс-спектрометрический метод
динамические методы
диэлектрики
микроэлектроника
испарение
исследование полупроводниковых материалов
конденсация
метод электродвижущих сил
газохроматографический метод
тензиметрические методы исследования
теплоемкость
уравнение Клаузиуса-Клапейрона
термохимческие методы исследования
термодинамические величины
статические методы
Располагается в коллекциях: Учебные издания

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
Федоров В.А. Анализ и исследование.pdffrom 1C25.26 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.