Отрывок: 2.7.б): Яэф sin# s «ou a + ( l - a ) s i n 0 После сделанных замечаний вернемся к рассмотрению вопроса откло­ нения пара в эффузионной камере от положения равновесия. 42 6} Рис.2.7. Схемы испарения с гладкой (а) и шероховатой (б) поверхностей, 0 - угол щели шероховатости Формула Шпайзера-Джонстона. Рассмотрим эффузионную камеру, имеющую площадь дна S , эквивалентную поверхности испа­ рения. Если из камеры вещество не выходит в виде пара, то за единиц...
Название : Анализ и исследование полупроводниковых материалов [Электронный ресурс] : [учеб. пособие]
Авторы/Редакторы : Федоров В. А.
Кузнецов Н. Т.
Федеральное агентство по образованию
Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева
Дата публикации : 2008
Издательство : Изд-во СГАУ
Аннотация : Используемые программы: Adobe Acrobat
Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия)
ISBN : 978-5-7883-0697-1
Другие идентификаторы : RU/НТБ СГАУ/WALL/СГАУ:6/Ф 333-225256
Ключевые слова: газохроматографический метод
диэлектрики
динамические методы
микроэлектроника
метод электродвижущих сил
масс-спектрометрический метод
конденсация
испарение
исследование полупроводниковых материалов
квазистатические методы
уравнение Клаузиуса-Клапейрона
тензиметрические методы исследования
теплоемкость
термодинамические величины
термохимческие методы исследования
статические методы
Располагается в коллекциях: Учебные пособия

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
Федоров В.А. Анализ и исследование.pdffrom 1C25.26 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.