Отрывок: Результаты нашего экспери мента указывает на то, что ответственными за изменение зарядового со стояния структур в процессе электроформовки являются основные носите ли из инверсионного канала на поверхности кремния. В связи с этим в ра боте экспериментально наблюдается тенденция роста положительного эф фективного заряда для структур с подложкой и-типа проводимости, и от ри...
Название : | Механизмы деградации электрофизических характеристик МОП - структур |
Авторы/Редакторы : | Афанасков В. Шалимова М. Б. |
Дата публикации : | 2011 |
Библиографическое описание : | Афанасков, В. Механизмы деградации электрофизических характеристик МОП - структур / В. Афанасков ; научный руководитель М. Б. Шалимова // Сорок вторая (XLII) научная конференция студентов : 4-9 апр. 2011 г., Самара, Россия : тез. докл. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. ун-т. - Самара : Изд-во "Самар. ун-т", 2011Ч. 1: / [отв. за вып. Н. С. Комарова, Л. А. Свистунова]. - 2011. - С. 55. |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\445301 |
Ключевые слова: | МОП-структуры диэлектрики и полупроводники |
Располагается в коллекциях: | Сорок вторая (XLII) научная конференция студентов |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
XLII Научная конференция-55.pdf | 698.72 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.