Отрывок: 2 Схема взаимодействия импульсов дефекта и диагностических циклов: 0kt , 0Цjt , ДkT , ЦT , Иkt , ИЦjt - параметры импульсных последовательностей, соответ- ствующих диагностическим циклам (индекс Ц) и дефектам (индекс Д), ,k j - номера периодов сигналов Для выявления и локализации диагностическое приложение запускается M раз. В течении каждого j – го цикла определяется факт выявления дефекта, которому соответствует единичное значение логической конъюн...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorГречишников, В.М.-
dc.contributor.authorБутько, А.Д.-
dc.contributor.authorИзвощиков, Н.С.-
dc.contributor.authorЛебедев, Д.А.-
dc.date.accessioned2023-02-20 12:33:09-
dc.date.available2023-02-20 12:33:09-
dc.date.issued2022-
dc.identifierDspace\SGAU\20230215\102013ru
dc.identifier.citationГречишников В.М. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИАГНОСТИКИ ЛАТЕНТНЫХ ДЕФЕКТОВ ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ МЕТОДОМ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ /В.М. Гречишников, А.Д. Бутько, Н.С. Извощиков, Д.А. Лебедев // Перспективные информационные технологии (ПИТ 2022) [Электронный ресурс] : труды Международной научно-технической конференции / под ред. С.А. Прохорова – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН. – 2022. – С. 393-396ru
dc.identifier.isbn978-5-93424-880-3-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/MATEMATIChESKOE-MODELIROVANIE-DIAGNOSTIKI-LATENTNYH-DEFEKTOV-ELEKTRONNYH-MODULEI-METODOM-GRANIChNOGO-SKANIROVANIYa-102013-
dc.language.isorusru
dc.publisherИздательство Самарского научного центра РАНru
dc.titleМАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИАГНОСТИКИ ЛАТЕНТНЫХ ДЕФЕКТОВ ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ МЕТОДОМ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯru
dc.typeArticleru
dc.textpart2 Схема взаимодействия импульсов дефекта и диагностических циклов: 0kt , 0Цjt , ДkT , ЦT , Иkt , ИЦjt - параметры импульсных последовательностей, соответ- ствующих диагностическим циклам (индекс Ц) и дефектам (индекс Д), ,k j - номера периодов сигналов Для выявления и локализации диагностическое приложение запускается M раз. В течении каждого j – го цикла определяется факт выявления дефекта, которому соответствует единичное значение логической конъюн...-
Располагается в коллекциях: Перспективные информационные технологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
978-5-93424-880-3_2022_393-396.pdf971.8 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.