Отрывок: Объем виртуальных испытаний в формате «наихудший случай» можно описать следующим аналитическим выражением [3]: N = (1+ 2P)T, (2) где N – количество вариантов, P – количество варьируемых параметров компонента (в том числе паразитных) и T – количество компонентов в схеме. Секция 9. Информационные технологии и анализ данных 549 C учётом влияния множественных коррелированных и независимых случайных ...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Сахарчук В. В. | ru |
dc.contributor.author | Ильин Е. А. | ru |
dc.contributor.author | Печаткин А. В. | ru |
dc.coverage.spatial | оперативная межфазовая коммуникация | ru |
dc.coverage.spatial | единое информационное пространство | ru |
dc.coverage.spatial | радиоэлектронное оборудование | ru |
dc.coverage.spatial | проработка электронных цепей | ru |
dc.coverage.spatial | поведенческое моделирование | ru |
dc.creator | Сахарчук В. В., Ильин Е. А., Печаткин А. В. | ru |
dc.date.issued | 2019 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\430788 | ru |
dc.identifier.citation | Сахарчук, В. В. Функционально-параметрическое поведенческое моделирование электронных устройств в формате «наихудший случай» / В. В. Сахарчук, Е. А. Ильин, А. В. Печаткин // XV Королевские чтения [Электронный ресурс] : междунар. молодеж. науч. конф., посвящ. 100-летию со дня рождения Д. И. Козлова : сб. тр. : 8-10 окт. 201 / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; [науч. ред. М. А. Шлеенков]. - 2019. - Т. 1. - С. 548-550 | ru |
dc.relation.ispartof | XV Королевские чтения [Электронный ресурс] : междунар. молодеж. науч. конф., посвящ. 100-летию со дня рождения Д. И. Козлова : сб. тр. : 8-10 окт. 201 | ru |
dc.source | XV Королевские чтения. - Т. 1 | ru |
dc.title | Функционально-параметрическое поведенческое моделирование электронных устройств в формате «наихудший случай» | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.epage | 550 | ru |
dc.citation.spage | 548 | ru |
dc.citation.volume | 1 | ru |
dc.textpart | Объем виртуальных испытаний в формате «наихудший случай» можно описать следующим аналитическим выражением [3]: N = (1+ 2P)T, (2) где N – количество вариантов, P – количество варьируемых параметров компонента (в том числе паразитных) и T – количество компонентов в схеме. Секция 9. Информационные технологии и анализ данных 549 C учётом влияния множественных коррелированных и независимых случайных ... | - |
Располагается в коллекциях: | Королевские чтения |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
XV Королевские чтения 2019 Том 1-548-550.pdf | 589.82 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.