Отрывок: Обнаруженные при анализе характеристические рентгеновские линии указывают на то, что данный элемент имеется в образце. Анализ интенсивности этих линий может быть использован для определения качественного и количественного состава исследуемого образца. Рис. 4.6. Схема образования характеристического спектра 47 На рис. 4.6 схематически показан процесс, происходящий при бомбардировке внутренних электронов внешними с высокой энергией. Каждая оболочка имеет по 2 уровня – α и β. Э...
Название : Современные методы исследования новых материалов
Авторы/Редакторы : Мельников А. А.
Бондарева О. С.
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Дата публикации : 2019
Издательство : Изд-во Самар. ун-та
Библиографическое описание : Современные методы исследования новых материалов [Электронный ресурс] : [метод. указания] / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; сост. : А. А. Мельников, О. С. Бондарева. - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2019. - on-line
Аннотация : Гриф.
В методических указаниях приведено описание шести лабораторных работ по современным методам исследования материалов, которые предназначены для аудиторной и самостоятельной работы студентов бакалавриата, обучающихся по направлению 28.03.02 Наноинженерия. Разработаны на кафедре технологии металлов и авиационного материаловедения Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королева.
Труды сотрудников Самар. ун-та (электрон. версия).
Используемые программы: Adobe Acrobat.
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\427367
Ключевые слова: наноматериалы
композиционные материалы
учебные издания
материаловедение
методические указания
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Мельников А.А., Бондарева О.С. Современные методы исследования 2019.pdf3.6 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.